[发明专利]半导体裸片和夹用不同的连接方法制造半导体器件的方法在审
申请号: | 202011408187.0 | 申请日: | 2020-12-04 |
公开(公告)号: | CN112928033A | 公开(公告)日: | 2021-06-08 |
发明(设计)人: | R·奥特伦巴;方炽胜;蔡柔燕;李德森;烈慧君;段珂颜;王莉双;王伟姗 | 申请(专利权)人: | 英飞凌科技奥地利有限公司 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60;H01L23/367;H01L23/488;H01L23/49 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 周家新 |
地址: | 奥地利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 不同 连接 方法 制造 半导体器件 | ||
一种半导体器件(10)包括:载体(11);第一外部电接触部(12)和第二外部电接触部(13);半导体裸片(14),其包括第一主面、与第一主面相反的第二主面、设置在第一主面上的第一接触焊盘(14.1)、设置在第二主面上的第二接触焊盘(14.2)以及设置在第二主面上的第三接触焊盘(14.3),其中,半导体裸片(14)包括垂直晶体管并以其第一主面设置在载体(11)上;夹(15),其将第二接触焊盘(14.2)连接到第二外部电接触部(13);和第一焊线(16),其与第一外部电接触部(12)连接,其中,第一焊线(16)连接在第三接触焊盘(14.3)与第一外部电接触部(12)之间,第一焊线(16)至少部分地设置在夹(15)下方。
技术领域
本公开涉及一种用于制造半导体器件的方法以及一种半导体器件。本公开特别地涉及一种半导体器件,所述半导体器件包括:两个主面上均具有接触焊盘的半导体裸片、与接触焊盘中的一个连接的夹以及焊线,其中,焊线至少部分地设置在夹下方。
背景技术
在半导体晶体管器件的制造领域中,半导体裸片技术的改进使得减小了半导体裸片的尺寸。这使得在裸片顶部上用于将夹软焊或烧结到源电极的空间较小。为了容纳栅极焊线或电流感测焊线,通常必须减小夹的尺寸。这减少了可用于封装体的顶侧冷却的面积。
发明内容
本公开的第一方面涉及一种用于制造半导体器件的方法,包括:提供载体;提供第一和第二外部电接触部;提供半导体裸片,其包括第一主面、与第一主面相反的第二主面、设置在第一主面上的第一接触焊盘、设置在第二主面上的第二接触焊盘以及设置在第二主面上的第三接触焊盘,其中,半导体裸片包括垂直晶体管;将半导体裸片以其第一主面连接到载体;提供第一焊线;将第一焊线的一端连接到第三接触焊盘,另一端连接到第一外部电接触部;提供夹;将夹的第一端连接到第二接触焊盘,第二端连接到第二外部电接触部;其中,通过不同的连接方法执行将半导体裸片连接到载体和将夹连接在第二接触焊盘与第二外部电接触部之间。
本公开的第二方面涉及一种用于制造半导体器件的方法,包括:提供载体;提供第一和第二外部电接触部;提供半导体裸片,其包括第一主面、与第一主面相反的第二主面、设置在第一主面上的第一接触焊盘、设置在第二主面上的第二接触焊盘以及设置在第二主面上的第三接触焊盘,其中,半导体裸片包括垂直晶体管;将半导体裸片以其第一主面连接到载体;提供第一焊线;将第一焊线的一端连接到第三接触焊盘,另一端连接到第一外部电接触部;提供夹;将夹的第一端连接到第二接触焊盘,第二端连接到第二外部电接触部;其中,在将半导体裸片连接到载体的步骤与将夹连接在第二接触焊盘和第二外部电接触部之间的步骤之间执行将第一焊线连接在第一外部电接触部与第三接触焊盘之间。
本公开的第三方面涉及一种半导体器件,包括:载体;第一外部电接触部和第二外部电接触部;半导体裸片,其包括第一主面、与第一主面相反的第二主面、设置在第一主面上的第一接触焊盘、设置在第二主面上的第二接触焊盘以及设置在第二主面上的第三接触焊盘,其中,半导体裸片包括垂直晶体管并以其第一主面设置在载体上;夹,其将第二接触焊盘连接到第二外部电接触部;和第一焊线,其与第一外部电接触部连接,其中,第一焊线连接在第三接触焊盘与第一外部电接触部之间,第一焊线至少部分地设置在夹下方。
附图说明
所包括的附图用以提供对实施例的进一步理解,并且附图被并入本说明书中并构成本说明书的一部分。附图示出了实施例,并且与说明书一起用于解释实施例的原理。其它实施例和实施例的许多预期优点将易于理解,因为通过参考以下详细描述,它们将变得更好理解。
附图的元件不一定相对于彼此成比例。相同的附图标记表示对应的相似部件。
图1示出了用于说明根据第一方面的用于制造半导体器件的方法的流程图。
图2示出了用于说明根据第二方面的用于制造半导体器件的方法的流程图。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
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