[发明专利]用于电路板阻抗测试的可调式探针装置

说明书

本发明涉及一种可调式探针装置，包含有一固定探针及一活动探针，且至少其中之一为具有同轴结构的讯号探针，活动探针能线性滑移地以其接地单元抵接于固定探针的接地单元。本发明揭示另一种可调式探针装置，包含有一用于接地的第一活动探针以及具有同轴结构的一固定探针及一第二活动探针，且能选择性地以二活动探针其中的任一作为一作用探针，使得作用探针与固定探针的点触端位于同一平面以同时点触待测物的二导电接点，且作用探针能线性滑移地以其接地单元抵接于固定探针的接地单元。由此，本发明的探针间距可调整，因此可降低电路板阻抗测试设备的成本。

技术领域

本发明与电路板阻抗测试设备有关，特别是指一种用于电路板阻抗测试的可调式探针装置。

背景技术

习知用于印刷电路板(printed circuit board；简称PCB)的阻抗测试设备主要包含有一测试机以及一探针装置，探针装置主要包含有多个用于点触印刷电路板的导电接点的探针，对于高频阻抗测试，各探针采用包含有一针芯及一与针芯绝缘地围绕针芯的接地导体的同轴针，并通过同轴讯号线与测试机电性连接，各探针为两两一组地以固定间距的方式设置，使得同一组的二探针的针尖非常邻近且其接地导体相互导通。

然而，印刷电路板阻抗测试所需的探针间距及角度有很多的变化，因此需要多个不同的探针装置来因应多样化的测试需求，即，当印刷电路板阻抗测试所需的探针间距及角度不同时，则需更换不同的探针装置，如此的测试设备的成本较高，因此有待改进。

发明内容

针对上述问题，本发明的主要目的在于提供一种用于电路板阻抗测试的可调式探针装置，其探针间距可调整，因此可降低电路板阻抗测试设备的成本。

为达到上述目的，本发明所提供的一种用于电路板阻抗测试的可调式探针装置，其特征在于包含有：一固定探针及一活动探针，所述固定探针及所述活动探针分别包含有一用于电性连接至接地电位的接地单元，所述固定探针及所述活动探针至少其中之一还包含有一与其接地单元相对固定并相互绝缘且用于传输测试讯号的针芯，所述活动探针能沿一第一轴向相对于所述固定探针线性滑移地以其接地单元抵接于所述固定探针的接地单元。

上述本发明的技术方案中，所述活动探针能沿一垂直于所述第一轴向的第二轴向相对于所述固定探针移动。

所述固定探针包含有一导电架以及一针体，所述导电架包含有一架体，所述针体包含有所述针芯、一包围所述针芯的绝缘层，以及一包围所述绝缘层的导电层，所述针体以所述导电层电性导通地固定于所述架体，所述固定探针的接地单元包含有所述导电架以及所述针体的导电层，所述活动探针能沿所述第一轴向相对于所述固定探针线性滑移地以其接地单元抵接于所述导电架。

所述导电架还包含有一电性导通地固定于所述架体的替换导体，所述活动探针能沿所述第一轴向相对于所述固定探针线性滑移地以其接地单元抵接于所述导电架的替换导体。

所述导电架的替换导体呈柱状，其纵向平行于所述第一轴向。

所述活动探针包含有一针体以及一电性导通地固定于所述针体的替换导体，所述活动探针能沿所述第一轴向相对于所述固定探针线性滑移地以其替换导体抵接于所述固定探针的替换导体，其中所述导电架的替换导体呈柱状，其纵向平行于所述第一轴向，所述活动探针的替换导体呈柱状，其纵向非平行于所述第一轴向。

所述导电架包含有分别位于所述固定探针的针体二侧的二所述替换导体。

所述活动探针包含有一针体以及一电性导通地固定于所述针体的替换导体，所述活动探针能沿所述第一轴向相对于所述固定探针线性滑移地以其替换导体抵接于所述固定探针的接地单元。