[发明专利]存储器设备及其操作方法

说明书

本公开的实施例涉及存储器设备及其操作方法。一种存储器设备及操作该存储器设备的方法，包括存储器块，该存储器块被配置为包括多个存储器单元，该多个存储器单元被堆叠为在衬底上彼此隔开，并且包括耦合到多个存储器单元的字线以及耦合到包括多个存储器单元的串的两端的位线和源极线；以及外围电路，该外围电路被配置为对存储器块执行擦除操作，其中外围电路被配置为对存储器块中包括的多个存储器单元执行擦除操作，然后依据多个存储器单元的尺寸对选自多个存储器单元的存储器单元执行缺陷检测操作。

相关申请的交叉引用

本申请根据35U.S.C.§119(a)要求于2020年3月25日向韩国知识产权局提交的韩国专利申请第10-2020-0035955号的优先权，其全部公开内容通过引用并入本文。

技术领域

本公开的各个实施例一般涉及一种存储器设备和操作该存储器设备的方法，并且更具体地，涉及一种在包括存储器设备的产品已经装运之后可以检测在该存储器设备中发生的缺陷的存储器设备和操作该存储器设备的方法。

背景技术

存储器设备可以包括易失性存储器，当供电中断时其中所存储的数据丢失；或非易失性存储器，即使当供电被中断时，其中所存储的数据也会被保留。

非易失性存储器设备通常要求实现大容量和高集成度以便与诸如移动电话和笔记本计算机之类的便携式电子设备一起使用。

随着包括形成在衬底上作为单层的存储器单元的二维(2D)非易失性存储器设备的结构达到物理缩放极限，正在开发包括垂直堆叠在衬底上的存储器单元的三维(3D)非易失性存储器设备。

具有3D结构的非易失性存储器设备有利于高度集成，但是构成存储器设备的元件之间的间隔狭窄，因此必然会降低存储器设备的可靠性。

发明内容

一种根据本公开的实施例的存储器设备包括存储器块，该存储器块包括多个存储器单元，该多个存储器单元被堆叠以在衬底上彼此隔开；包括耦合到多个存储器单元的字线并且包括耦合到包括多个存储器单元的串的两端的位线和源极线。该存储器设备还包括外围电路，该外围电路被配置为对存储器块执行擦除操作。外围电路被配置为对包括在存储器块中的多个存储器单元执行擦除操作，并且然后依据多个存储器单元的尺寸对选自多个存储器单元的存储器单元执行缺陷检测操作。

一种根据本公开的实施例的操作存储器设备的方法包括：对存储器块执行擦除操作和块验证操作。该方法还包括：当块验证操作通过时，对选自包括在存储器块中的多个页的页执行缺陷检测操作。该方法还包括：当块验证操作失败或缺陷检测操作失败直到擦除操作的数目达到最大擦除计数时，将存储器块处理为坏块。

附图说明

图1是图示了根据本公开的实施例的存储器设备的图。

图2是详细图示了图1所图示的存储器单元阵列的图。

图3是详细图示了图2所图示的存储器块的图。

图4是图示了具有多堆叠结构的存储器块的图。

图5是图示了缺陷检测操作的实施例的流程图。

图6是图示了根据本公开的实施例的块检测操作的图。

图7是图示了擦除验证电压和缺陷验证电压的图。

图8至图10是图示了根据本公开的实施例的对选择的页执行的检测操作的图。

图11是图示了具有多堆叠结构的存储器块的示例的图。

图12和图13是图示了检测选自图11所图示的存储器块的页的操作的图。

图14是图示了根据本公开的实施例的缺陷检测操作的图。