[发明专利]测速方法及装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种测速方法，其特征在于，所述方法包括：

获取第一待处理图像和第二待处理图像；所述第一待处理图像和所述第二待处理图像均包括第一对象；

获取所述第一对象在所述第一待处理图像中的第一位置、所述第一对象在所述第二待处理图像中的第二位置和第一移动距离的第一透射参数；所述第一移动距离为所述第一位置与所述第二位置之间的距离；所述第一透射参数表征所述第一移动距离与第一物理距离之间的转换关系；所述第一物理距离为所述第一移动距离对应的物理距离；所述第一物理距离与所述第一位置在所述第一待处理图像中的尺度呈负相关，和/或，所述第一物理距离与所述第二位置在所述第二待处理图像中的尺度呈负相关；

依据所述第一移动距离、所述第一透射参数和移动时间，得到所述第一对象的速度；所述移动时间依据所述第一待处理图像的时间戳和所述第二待处理图像的时间戳得到。

2.根据权利要求所述的方法，其特征在于，所述依据所述第一移动距离、所述第一透射参数和移动时间，得到所述第一对象的速度，包括：

依据所述第一透射参数和所述第一移动距离，得到第二移动距离；

依据所述第二移动距离和所述移动时间，得到所述速度。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述获取所述第一移动距离的第一透射参数，包括：

获取第三位置的第二透射参数；所述第三位置为所述第一位置与所述第二位置连线上的位置；所述第二透射参数表征第一像素点的尺寸与第一物点的尺寸之间的转换关系；所述第一像素点为依据所述第三位置在所述第一待处理图像中确定的像素点，所述第一像素点或为依据所述第三位置在所述第二待处理图像中确定的像素点；所述第一物点为所述第一像素点对应的物点；第一比值与所述第一像素点在图像中的尺度呈负相关；所述第一比值为所述第一像素点的尺寸与所述第一物点的尺寸之间的比值；

依据所述第二透射参数，得到所述第一透射参数；所述第一透射参数与所述第二透射参数呈正相关。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述第三位置为所述第一位置与所述的第二位置的中间位置。

5.根据权利要求3或4所述的方法，其特征在于，所述获取第三位置的第二透射参数，包括：

对所述第一待处理图像进行物体检测处理，得到第一物体框的位置和第二物体框的位置；所述第一物体框包含第一物体；所述第二物体框包含第二物体；

依据所述第一物体框的位置得到所述第一物体的第一尺寸，依据所述第二物体框的位置得到所述第二物体的第二尺寸；

依据所述第一尺寸和第三尺寸得到第三透射参数，依据所述第二尺寸和第四尺寸得到第四透射参数；所述第三尺寸为所述第一物体的物理尺寸；所述第三透射参数表征第五尺寸与第六尺寸之间的转换关系；所述第五尺寸为第二像素点的尺寸；所述第二像素点在所述第一待处理图像中的位置依据所述第一物体框的位置确定；所述第六尺寸为所述第二像素点对应的物点；所述第四尺寸为所述第二物体的物理尺寸；所述第四透射参数表征第七尺寸与第八尺寸之间的转换关系；所述第七尺寸为第三像素点的尺寸；所述第三像素点在所述第二待处理图像中的位置依据所述第二物体框的位置确定；所述第八尺寸为所述第三像素点对应的物点；

对所述第三透射参数和所述第四透射参数进行曲线拟合处理，得到所述第一待处理图像的透射参数图；第九尺寸与第十尺寸之间的转换关系依据所述透射参数图中的第一像素值确定；所述第九尺寸为所述第一待处理图像中的第四像素点的尺寸；所述第十尺寸为所述第四像素点对应的物点的尺寸；所述第一像素值为第五像素点的像素值；所述第五像素点为所述透射参数图中与所述第四像素点对应的像素点；

依据所述透射参数图中与所述第三位置对应的像素值，得到所述第二透射参数。