[发明专利]测量图像中几何属性的方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种测量图像中几何属性的方法，其特征在于，被测图像上覆盖有一呈透明状的操作界面，所述方法包括：

基于用户在所述操作界面上的标记操作，确定出所述被测图像上的目标线段；

获取所述用户输入的所述目标线段的物理尺寸，并基于所述物理尺寸以及所述目标线段在所述被测图像上对应的像素尺寸，获取所述被测图像上物理尺寸与像素尺寸之间的比例值；

基于用户在所述操作界面上的选择操作，确定出所述被测图像上的待测目标；

基于所述比例值，在所述操作界面上生成所述待测目标的几何属性。

2.根据权利要求1所述的测量图像中几何属性的方法，其特征在于，所述基于用户在所述操作界面上的标记操作，确定出所述被测图像上的目标线段，包括：

获取所述用户在所述操作界面上标记的两个标记点；

基于所述两个标记点，在所述操作界面上生成第一线段；其中，在所述被测图像上与所述第一线段对应的线段即为所述目标线段。

3.根据权利要求2所述的测量图像中几何属性的方法，其特征在于，所述被测图像上包含刻度尺；所述获取所述用户在所述操作界面上标记的两个标记点，包括：

获取所述用户在所述操作界面上标记的对应于所述刻度尺上的刻度点；

相应的，所述基于所述两个标记点，在所述操作界面上生成第一线段，包括：

基于两个所述刻度点，在所述操作界面上生成所述第一线段。

4.根据权利要求3所述的测量图像中几何属性的方法，其特征在于，所述获取所述用户在所述操作界面上标记的两个刻度尺上的刻度点，包括：

获取所述用户在所述操作界面上标记的两个初始点；

判断所述两个初始点是否与所述刻度尺上的刻度值对准；

当所述两个初始点与所述刻度尺上的刻度值未对准时，确定出与每个所述初始点距离最近的与刻度值对准的标记点；其中，所述对准的标记点即为所述刻度点。

5.根据权利要求1所述的测量图像中几何属性的方法，其特征在于，所述基于用户在所述操作界面上的选择操作，确定出所述被测图像上的待测目标，包括：

基于用户在所述操作界面上的选择操作，确定出所述被测图像上的待测线段；

相应的，所述基于所述比例值，在所述操作界面上生成所述待测目标的几何属性，包括：

基于所述比例值，在所述操作界面上生成所述待测线段的物理长度。

6.根据权利要求1所述的测量图像中几何属性的方法，其特征在于，所述基于用户在所述操作界面上的选择操作，确定出所述被测图像上的待测目标，包括：

基于用户在所述操作界面上的选择操作，确定出所述被测图像上的待测区域；

相应的，所述基于所述比例值，在所述操作界面上生成所述待测目标的几何属性，包括：

基于所述比例值，在所述操作界面上生成所述待测区域的物理面积。

7.根据权利要求1所述的测量图像中几何属性的方法，其特征在于，所述方法还包括：

获取所述用户在所述操作界面上选择的两条相交的待测线段；

在所述操作界面上生成所述两条相交的待测线段的夹角。

8.根据权利要求1所述的测量图像中几何属性的方法，其特征在于，所述基于用户在所述操作界面上的标记操作，确定出所述被测图像上的目标线段，包括：

响应所述用户在所述操作界面上的放大操作，获取放大后的被测图像；

基于所述用户在所述操作界面上对所述放大后的被测图像的标记操作，确定所述目标线段。