[发明专利]一种含螺纹目标物位姿的计算方法在审

专利信息
申请号: 202010510820.0 申请日: 2020-06-08
公开(公告)号: CN111784766A 公开(公告)日: 2020-10-16
发明(设计)人: 郭寅;尹仕斌;张楠楠;张泽阳 申请(专利权)人: 易思维(杭州)科技有限公司
主分类号: G06T7/70 分类号: G06T7/70
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 310051 浙江省杭州*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 螺纹 目标 物位姿 计算方法
【说明书】:

发明提供了一种基于数学模型的含螺纹目标物位姿的计算方法,记含螺纹目标物固定时其与他物相交处的平面为第一平面,获取含螺纹目标物侧表面及第一平面的点云数据;拟合所述第一平面的平面方程;作N个平行于所述第一平面的平面Ci;所述平面Ci将含螺纹目标物侧表面的点云分割成N+1段,各段点云记为Ωn;将每个平面Ci两侧的点云Ωn投影到相应的平面Ci上,根据约束条件,建立含螺纹目标物的数学模型,将各平面Ci上投影点代入数学模型,利用最优化方法构建目标函数,求解所述数学模型的未知参数,得到轴线的方向向量,将其记为含螺纹目标物的位姿,本方法具有准确、高效的特点。

技术领域

本发明涉及视觉检测领域,具体涉及一种基于数学模型的含螺纹目标物位姿计算方法。

背景技术

在工业制造、建筑领域中有多个场景需使用含螺纹目标物进行联接、传动或者密闭,含螺纹目标物的位姿对后续工序有重大影响。目前针对含螺纹目标物的位姿检测有以下两种方法:人工检测、线结构光检测。人工检测采用断差尺、百分表、钢板尺、楔形塞尺、铁片尺等工具进行,测量精度、效率都较低,不能实现在线测量。而结构光检测,美国Perceptron公司研制了多线结构光的传感器用于螺柱位姿检测,其通过利用线结构光对螺柱进行重建,从而分析螺柱的位姿,但螺柱表面较为复杂,并且具有高反光特性,这一特性势必影响光条中心提取的精度,另外使用线激光耗时较长,不能满足在线测量实时性的要求,另一种方法通过三维测量设备获取目标物螺纹的点云数据,但由于含螺纹目标物外形复杂、且具有高反光特性,不能够获取完整的目标物点云,直接分析点云数据难以准确的得到目标物的位姿信息。

发明内容

为了实现对含螺纹目标物的自动在线位姿检测,本发明方法构建了含螺纹目标物的数学模型,先将点云数据投影到多层平面,在每个平面上建立几何图形约束,再整体约束各个几何图形,建立含螺纹目标物的数学模型,利用最优化的方法得出目标函数的最优解,从而计算出螺纹目标物的位姿数据,本方法实时性好,适用于在线检测。

本发明的技术方案如下:

一种含螺纹目标物位姿的计算方法,包括如下步骤:

1)记含螺纹目标物固定时其与他物相交处的平面为第一平面,获取含螺纹目标物侧表面及第一平面的点云数据;

拟合所述第一平面的平面方程;

2)作N个平行于所述第一平面的平面,记为平面Ci,1≤i≤N,N≥2;所述平面Ci将含螺纹目标物侧表面的点云分割成N+1段,各段点云记为Ωn,1≤n≤N+1,单段点云Ωn至少包含一圈螺纹;

3)将每个平面Ci两侧的点云Ωn投影到相应的平面Ci上,记各投影点的坐标为(xi,yi);

4)根据约束条件,建立含螺纹目标物的数学模型,将各平面Ci上投影点坐标(xi,yi)代入数学模型,利用最优化方法构建目标函数,求解所述数学模型的未知参数,得到轴线的方向向量,将其记为含螺纹目标物的位姿;

所述约束条件为:各平面Ci上投影点拟合出的几何图形,具有相同的尺寸,且各个几何图形的中心点在同一直线上。

进一步,所述几何图形为椭圆环、正圆环、椭圆或正圆;

当所述几何图形为椭圆环时,所述约束条件为:各个椭圆环的内、外椭圆具有相同的长轴、短轴、椭圆倾斜角;各个椭圆环的中心点在同一直线上,将该直线记为含螺纹目标物的轴线;

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