[发明专利]缺陷检测方法、装置、缺陷检测设备及计算机存储介质

说明书

本发明公开了一种缺陷检测方法、装置、缺陷检测设备及计算机存储介质，所述缺陷检测方法包括：输入图像，并对所述图像进行多次小波变换；分别获取多次小波变换中每次小波变换对应的目标图像集，其中，所述目标图像集包括低频图像与所述低频图像对应的三个方向的高频图像；对所述目标图像集进行后处理，以获取缺陷重构图，对各低频图像进行基于曲面拟合的缺陷检测，并利用相应高频图像进行缺陷重构，实现对形态各异，位置随机的缺陷进行有效检测，通过先采用小波变换的多尺度分析，实现对大小不同的缺陷进行有效检测，提高了缺陷检测的精准度与准确性。

技术领域

本发明涉及缺陷检测领域，尤其涉及一种缺陷检测方法、装置、缺陷检测设备及计算机存储介质。

背景技术

缺陷成像系统主要包括：相机，镜头和光源。系统根据客户的具体需求，选用合适的相机，镜头和光源对缺陷进行成像。而缺陷自动检测部分，是整个视觉检测系统的大脑，其中利用图像处理技术对缺陷进行自动检测，是整个系统的核心，目前尽管各种检测算法不断出现，但在实际应用中仍然与满足实际应用的需求尚有一定差距，通常由于缺陷形态各异、大小不一等造成检测结果不准确，存在误差的后果。

上述内容仅用于辅助理解本发明的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种缺陷检测方法、装置、缺陷检测设备及计算机存储介质，旨在解决目前缺陷检测中对产品缺陷检测不精确，检测结果不准确的技术问题。

为实现上述目的，本发明提供一种缺陷检测方法，所述缺陷检测方法包括以下步骤：

输入图像，并对所述图像进行多次小波变换；

分别获取多次小波变换中每次小波变换对应的目标图像集，其中，所述目标图像集包括低频图像与所述低频图像对应的三个方向的高频图像；

对所述目标图像集进行后处理，以获取缺陷重构图。

优选地，对所述低频图像进行曲面拟合的缺陷检测，以获取缺陷图像；

基于所述低频图像对应的三个方向的高频图像，对所述缺陷图像进行重构，以获取缺陷重构图。

优选地，对所述低频图像进行预处理，以获取所述低频图像对应的待检测区域；

对所述待检测区域进行扩展，以获取扩展区域；

对所述待检测区域与所述扩展区域进行曲面拟合，以获取缺陷图像。

优选地，对所述待检测区域进行曲面拟合，以获取第一拟合结果；

对所述扩展区域进行曲面拟合，以获取第二拟合结果；

基于所述第一拟合结果与所述第二拟合结果，获取缺陷图像。

优选地，对所述低频图像进行灰度化处理，以获取第一灰度图像；

对所述第一灰度图像进行低通滤波处理，以获取第二灰度图像；

获取所述第二灰度图像的灰度分布3D图；

基于所述灰度分布3D图，获取所述低频图像对应的缺陷区域。

优选地，获取所述低频图像对应的三个方向的高频图像的高频系数；

基于所述高频系数对所述缺陷图像进行小波逆变换，以获取缺陷重构图。

优选地，获取多次小波变换对应的缺陷重构图集；

分别对所述缺陷重构图集中每一张缺陷重构图进行像素选择，以获取像素点灰度值集；

获取所述像素点灰度值集中像素点灰度值最大的目标像素点灰度值，并将所述目标像素点灰度值作为缺陷输出值。