[发明专利]缺陷检测方法、装置、缺陷检测设备及计算机存储介质

权利要求书

1.一种缺陷检测方法，其特征在于，所述缺陷检测方法包括以下步骤：

输入图像，并对所述图像进行多次小波变换；

分别获取多次小波变换中每次小波变换对应的目标图像集，其中，所述目标图像集包括低频图像与所述低频图像对应的三个方向的高频图像；

对所述目标图像集进行后处理，以获取缺陷重构图。

2.如权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述对所述目标图像集进行后处理，以获取缺陷重构图的步骤包括：

对所述低频图像进行曲面拟合的缺陷检测，以获取缺陷图像；

基于所述低频图像对应的三个方向的高频图像，对所述缺陷图像进行重构，以获取缺陷重构图。

3.如权利要求2所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述对所述低频图像进行曲面拟合的缺陷检测，以获取缺陷图像的步骤包括：

对所述低频图像进行预处理，以获取所述低频图像对应的待检测区域；

对所述待检测区域进行扩展，以获取扩展区域；

对所述待检测区域与所述扩展区域进行曲面拟合，以获取缺陷图像。

4.如权利要求3所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述对所述待检测区域与所述扩展区域进行曲面拟合，以获取缺陷图像的步骤包括：

对所述待检测区域进行曲面拟合，以获取第一拟合结果；

对所述扩展区域进行曲面拟合，以获取第二拟合结果；

基于所述第一拟合结果与所述第二拟合结果，获取缺陷图像。

5.如权利要求3所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述对所述低频图像进行预处理，以获取所述低频图像对应的待检测区域的步骤包括：

对所述低频图像进行灰度化处理，以获取第一灰度图像；

对所述第一灰度图像进行低通滤波处理，以获取第二灰度图像；

获取所述第二灰度图像的灰度分布3D图；

基于所述灰度分布3D图，获取所述低频图像对应的待检测区域。

6.如权利要求2所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述基于所述低频图像对应的三个方向的高频图像，对所述缺陷图像进行重构，以获取缺陷重构图的步骤包括：

获取所述低频图像对应的三个方向的高频图像的高频系数；

基于所述高频系数对所述缺陷图像进行小波逆变换，以获取缺陷重构图。

7.如权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述对所述目标图像集进行后处理，以获取缺陷重构图的步骤之后，还包括：

获取多次小波变换对应的缺陷重构图集；

分别对所述缺陷重构图集中每一张缺陷重构图进行像素选择，以获取像素点灰度值集；

获取所述像素点灰度值集中像素点灰度值最大的目标像素点灰度值，并将所述目标像素点灰度值作为缺陷输出值。

8.一种缺陷检测装置，其特征在于，所述缺陷检测装置包括：

输入模块：输入图像，并对所述图像进行多次小波变换；

获取模块：分别获取多次小波变换中每次小波变换对应的目标图像集，其中，所述目标图像集包括低频图像与所述低频图像对应的三个方向的高频图像；

处理模块：对所述目标图像集进行后处理，以获取缺陷重构图。

9.一种缺陷检测设备，其特征在于，所述缺陷检测设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的缺陷检测程序，所述缺陷检测程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的缺陷检测方法的步骤。

10.一种计算机存储介质，其特征在于，所述计算机存储介质上存储有缺陷检测程序，所述缺陷检测程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的缺陷检测方法的步骤。