[发明专利]一种测量玻璃基板缺陷分层的装置和方法

说明书

本申请公开了一种测量玻璃基板缺陷分层的装置，所述装置包括，支撑机构、拍摄机构以及驱动机构，其中，所述支撑机构，用于设置所述拍摄机构；所述拍摄机构，包括第一拍摄机构和第二拍摄机构，所述第一拍摄机构的轴线与所述第二拍摄机构的中轴线重合；所述驱动机构，用于带动所述支撑机构移动。本申请还涉及一种测量玻璃基板缺陷分层的方法。根据本申请测量玻璃基板缺陷分层的装置，通过该装置可提高待测玻璃基板缺陷分层准确率，且抗干扰性强，价格便宜。

技术领域

本申请涉及光电显示玻璃基板生产技术领域，具体涉及一种测量玻璃基板缺陷分层的装置和方法。

背景技术

光电显示玻璃基板作为液晶显示器的主要原材，其产品品质直接关系到液晶显示器的成像效果以及显示器厂商的良率，目前光电显示玻璃基板的表面缺陷有：玻璃碎屑、划痕、面部裂纹、脏污等，内部缺陷有：气泡、结石、铂金等。此类缺陷若分布在玻璃使用面(上表面)，会造成客户端镀膜脱落、断线、色差等不良。确认此类缺陷是否在玻璃上表面需要使用一种缺陷分层检测设备，通常的缺陷分层方法为：相机从固定位置开始每隔一层进行一次聚焦、拍摄，其缺陷图像最清晰的位置，即该缺陷的所在层数。这种方法仅适用于水平传送的设备，在垂直传送设备上，玻璃由于翘曲、气浮、板型的问题，玻璃相对应相机的水平度不一，导致缺陷分层不准，而且现有的缺陷分层检测设备不仅价格昂贵，而且准确率低，只能确定缺陷的位置，不能确定缺陷的类型。

发明内容

有鉴于此，本申请提供一种测量玻璃基板缺陷分层的装置，通过该装置可提高待测玻璃基板缺陷分层准确率，且抗干扰性强，价格便宜。

为实现上述目的，本申请采用如下技术方案：

本申请提供一种测量玻璃基板缺陷分层的装置，所述装置包括，支撑机构、拍摄机构以及驱动机构，其中，

所述支撑机构，用于设置所述拍摄机构；

所述拍摄机构，包括第一拍摄机构和第二拍摄机构，所述第一拍摄机构包括第一光源和第一相机，所述第一光源和第一相机呈八字形设置，所述第一光源和所述第一相机的中线与所述第二拍摄机构的中轴线重合；

所述驱动机构，用于带动所述支撑机构移动。

在具体实施方式中，所述第二拍摄机构包括依次间隔设置的第二相机、第二光源以及透镜组合，所述第二相机、第二光源以及透镜组合位于一条直线上。

在具体实施方式中，所述第一拍摄机构用于确定所述第二拍摄机构的预定位置；所述第二拍摄机构用于逐层拍摄玻璃基板的缺陷图像以确定玻璃基板上缺陷的类型以及位置。

在具体实施方式中，所述透镜组合靠近所述第一拍摄机构设置，所述第二光源以及所述第二相机逐渐远离所述第一拍摄机构设置。

在具体实施方式中，所述第二光源为同轴光源，所述第一光源为点光源。

在具体实施方式中，所述支撑机构包括支撑板，所述第一光源、第一相机、第二光源、第二相机、透镜组合均固设于所述支撑板上。

在具体实施方式中，所述所述驱动机构包括步进电机，所述步进电机与所述支撑板连接，通过所述步进电机驱动所述支撑板移动。

在具体实施方式中，所述装置还包括控制机构，所述控制机构用于控制所述驱动机构的驱动方向，从而使得所述驱动机构带动所述支撑板向特定的方向进行移动。

本申请还提供一种测量玻璃基板缺陷分层的方法，包括如下步骤：

将具有缺陷的待测玻璃基板与玻璃基板缺陷分层的装置垂直设置；

第一拍摄机构拍摄所述待测玻璃基板上缺陷的图像，以确定第二拍摄机构需要达到的预定位置；

驱动机构带动所述支撑板移动，以使所述第二拍摄机构到达预定的位置；