[发明专利]半导体存储装置有效
申请号: | 202010091048.3 | 申请日: | 2020-02-13 |
公开(公告)号: | CN112242401B | 公开(公告)日: | 2023-10-27 |
发明(设计)人: | 吉村尚弥;中塚圭祐 | 申请(专利权)人: | 铠侠股份有限公司 |
主分类号: | H10B43/10 | 分类号: | H10B43/10;H10B43/35;H10B43/50;H10B43/27;G11C16/04 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 张世俊 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 存储 装置 | ||
1.一种半导体存储装置,具备:
衬底;
第1导电体层,设置于所述衬底的上方;
第2导电体层,设置于所述第1导电体层的上方;
第3导电体层及第4导电体层,设置于所述第2导电体层的上方,且彼此在第1方向上分离;
第5导电体层,设置于所述第2导电体层的上方且与所述第3导电体层相同的层,并且与所述第3导电体层分离;
第6导电体层,设置于所述第2导电体层的上方且与所述第4导电体层相同的层,并且与所述第4导电体层分离;
多个第1绝缘区域,沿着与所述第1方向交叉的第2方向设置在所述第3导电体层与所述第5导电体层之间、且所述第4导电体层与所述第6导电体层之间;
第1柱,沿着所述第1方向贯通所述第2导电体层且设置于所述多个第1绝缘区域间,并且包含与所述第1导电体层接触的第1半导体层、及设置于所述第1半导体层与所述第2至第6导电体层之间的第1绝缘体层;
第7导电体层,设置于所述第1导电体层的上方且与所述第2导电体层相同的层,并且与所述第2导电体层分离;
第8导电体层及第9导电体层,设置于所述第7导电体层的上方,且彼此在所述第1方向上分离;
第10导电体层,设置于所述第7导电体层的上方且与所述第8导电体层相同的层,并且与所述第8导电体层分离;
第11导电体层,设置于所述第7导电体层的上方且与所述第9导电体层相同的层,并且与所述第9导电体层分离;
多个第2绝缘区域,沿着所述第2方向设置在所述第8导电体层与所述第10导电体层之间、且所述第9导电体层与所述第11导电体层之间;
第2柱,沿着所述第1方向贯通所述第7导电体层且设置于所述多个第2绝缘区域间,并且包含与所述第1导电体层接触的第2半导体层、及设置于所述第2半导体层与所述第7至第11导电体层之间的第2绝缘体层;
第3绝缘区域,沿着所述第2方向设置在所述第3至第6导电体层与所述第8至第11导电体层之间;以及
第4绝缘区域,设置于所述第2导电体层与所述第7导电体层之间,且在俯视下与所述第3绝缘区域分离。
2.根据权利要求1所述的半导体存储装置,其中
所述第4绝缘区域在俯视下设置于所述第1柱与所述第2柱之间。
3.根据权利要求1所述的半导体存储装置,其中
所述第1柱及所述第2柱分别与所述第4绝缘区域分离。
4.根据权利要求1所述的半导体存储装置,其中
所述第4导电体层与所述第8导电体层介隔所述第3绝缘区域在与所述第1方向及所述第2方向分别交叉的第3方向上相邻,
所述第5导电体层与所述第9导电体层介隔所述第3绝缘区域在所述第3方向上相邻。
5.根据权利要求4所述的半导体存储装置,其还具备第3柱,
所述第3柱贯通所述第2导电体层及所述第7导电体层中的任一个且沿着所述第1方向延伸而设置,并且包含所述第3至第6导电体层与所述第8至第11导电体层之间的第3绝缘体层。
6.根据权利要求5所述的半导体存储装置,其中
所述第3柱在所述第2方向上将所述第3绝缘区域分断,
所述第3绝缘体层与所述第4导电体层、所述第5导电体层、所述第8导电体层及所述第9导电体层分别接触。
7.根据权利要求5所述的半导体存储装置,其中
所述第4绝缘区域在俯视下与所述第3绝缘区域在所述第3方向上分离。
8.根据权利要求5所述的半导体存储装置,其中
所述第4绝缘区域具有在俯视下沿着所述第3柱的侧面设置的部分。
9.根据权利要求5所述的半导体存储装置,其中
所述第3绝缘区域在俯视下与所述第2导电体层及所述第7导电体层中的任一个重叠。
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