[发明专利]储能薄膜有效电极面积的计算方法在审

专利信息
申请号: 202010090046.2 申请日: 2020-02-13
公开(公告)号: CN111311669A 公开(公告)日: 2020-06-19
发明(设计)人: 杨波;赵瑞琪;蒋宁;陈介煜;吴琼;赵世峰 申请(专利权)人: 内蒙古大学
主分类号: G06T7/62 分类号: G06T7/62;G06T7/11;G06T7/187
代理公司: 北京久维律师事务所 11582 代理人: 邢江峰
地址: 010021 内蒙古自*** 国省代码: 内蒙古;15
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摘要:
搜索关键词: 薄膜 有效 电极 面积 计算方法
【权利要求书】:

1.一种计算储能薄膜有效电极面积的方法,包括:

采集图像;

对所述图像进行分割,其中,所述分割包括:

对每个待分割的区域确定一个或者多个种子象素作为生长的起点;

将所述种子象素的邻域中与其具有相同或者相似性质的象素合并到种子象素所在的区域内;

将合并的象素作为新的种子像素,重复将所述新的种子象素的邻域中与其具有相同或者相似性质的象素合并到所述新的种子象素所在的区域内,直到没有满足条件的象素加入所述新的种子象素所在的区域;

将与采集薄膜图像分辨率相同的尺子作为参考,获取所述尺子的任意三点,得出三角形的数学模型,计算电极区域的实际面积。

2.根据权利要求1所述的方法,其中,采集图像包括利用光学显微镜采集图像。

3.根据权利要求1所述的方法,其中,在对所述图像进行分割之前,对所述图像进行平滑去噪处理。

4.根据权利要求1所述的方法,其中,所述分割采用的相似准则为:

|f(m,n)-f(s,t)|<T

其中f(s,t)为生长点(s,t)的灰度值,f(m,n)为(s,t)的邻域点(m,n)的灰度值,T为相似门限。

5.根据权利要求1所述的方法,其中,计算电极区域的实际面积包括通过像素的欧氏距离、勾股定理原理和像素面积与实体面积比例,计算电极区域的实际面积。

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