[发明专利]LED支架缺陷检测及剔除设备

说明书

本发明提供一种LED支架缺陷检测及剔除设备。LED支架缺陷检测及剔除设备包括：机柜、限位轨道、缺陷检测装置和缺陷剔除装置，缺陷检测装置包括：相机镜头和计算模块，相机镜头位于限位轨道的上方，相机镜头的拍摄方向朝向料带，以获取料带的图像，计算模块与相机镜头通信连接，计算模块用于判断料带是否存在缺陷颗粒；缺陷剔除装置包括：剔除模组和剔除驱动机构；限位轨道包括：进料口和出料口，料带通过进料口进入限位轨道并通过出料口离开限位轨道，剔除模组位于出料口远离进料口的一侧。本发明能够对料带进行缺陷检测，并对缺陷颗粒进行剔除，方便快捷，节省人力。

技术领域

本发明涉及缺陷检测技术领域，尤其涉及一种LED支架缺陷检测及剔除设备。

背景技术

传统的LED支架检测多为人工用放大镜检测，若发现LED支架在注塑后缺陷颗粒还需要人工进行剔除。如此人工检测不但效率底，而且人眼容易疲劳，误检和漏检率较高，且LED支架缺陷颗粒及其微小，长期进行人工检测，会人眼受到损伤；同时，人工剔除的方法费时费力，不利于LED支架的生产制造。

发明内容

为解决上述问题，本发明提供的LED支架缺陷检测及剔除设备，能够对料带进行缺陷检测，并对缺陷颗粒进行剔除，方便快捷，节省人力。

本发明提供一种LED支架缺陷检测及剔除设备，包括：机柜、限位轨道、缺陷检测装置和缺陷剔除装置，所述限位轨道用于限定料带在所述LED支架缺陷检测及剔除设备的传送方向，所述机柜用于支撑所述限位轨道、缺陷检测装置和缺陷剔除装置；

所述缺陷检测装置包括：相机镜头和计算模块，所述相机镜头位于所述限位轨道的上方，所述相机镜头的拍摄方向朝向料带，以获取料带的图像，所述计算模块与所述相机镜头通信连接，所述计算模块用于根据通过相机镜头获取到的图像判断料带是否存在缺陷颗粒；

所述缺陷剔除装置包括：剔除模组和用于驱动所述剔除模组移动的剔除驱动机构；

所述限位轨道包括：进料口和出料口，所述料带通过进料口进入所述限位轨道并通过出料口离开所述限位轨道，所述剔除模组位于所述出料口远离所述进料口的一侧；

在所述计算模块确定料带存在缺陷颗粒，且缺陷颗粒移动至所述缺陷剔除装置的情况下，所述计算模块控制剔除驱动机构通过移动所述剔除模组，以使所述剔除模组将料带上的缺陷颗粒进行剔除。

可选地，所述剔除模组包括：凸模和凹模；

所述凸模朝向所述凹模的一端固定设置有冲压头，所述凹模朝向所述冲压头的一端开设有冲压口，所述冲压口与所述冲压头适配；

在料带上的缺陷颗粒移动至所述凸模和所述凹模之间的情况下，所述剔除驱动机构带动所述冲压头通过所述冲压口与所述凹模插接，以将料带上的缺陷颗粒剔除。

可选地，所述剔除驱动机构包括：用于带动所述凸模上下移动的冲压组件、用于带动所述凸模和所述凹模左右移动的平移组件，以及用于将所述冲压组件和所述平移组件固定在所述机柜内的支撑架；

在缺陷颗粒移动至所述凸模和所述凹模之间的情况下，所述平移组件带动所述凸模和所述凹模水平移动，以使缺陷颗粒位于所述冲压头和所述冲压口之间，所述冲压组件带动所述冲压头通过所述冲压口与所述凹模插接，以将缺陷颗粒剔除出料带。

可选地，所述剔除驱动机构还包括：用于带动所述凹模上下移动的顶升组件；

在需要对料带进行剔除的情况下，所述顶升组件带动所述凹模向上移动，以使所述凹模与所述料带相抵触。

可选地，所述缺陷检测装置还包括：用于驱动所述相机镜头移动的取像驱动机构；

所述取像驱动机构包括：与相机镜头固定连接的取像支座、用于带动所述取像支座上下移动的升降驱动组件、取像滑轨、与所述取像滑轨滑移连接的取像滑块；