[发明专利]LED支架缺陷检测及剔除设备

权利要求书

1.一种LED支架缺陷检测及剔除设备，其特征在于，包括：机柜、限位轨道、缺陷检测装置和缺陷剔除装置，所述限位轨道用于限定料带在所述LED支架缺陷检测及剔除设备的传送方向，所述机柜用于支撑所述限位轨道、缺陷检测装置和缺陷剔除装置；

所述缺陷检测装置包括：相机镜头和计算模块，所述相机镜头位于所述限位轨道的上方，所述相机镜头的拍摄方向朝向料带，以获取料带的图像，所述计算模块与所述相机镜头通信连接，所述计算模块用于根据通过相机镜头获取到的图像判断料带是否存在缺陷颗粒；

所述缺陷剔除装置包括：剔除模组和用于驱动所述剔除模组移动的剔除驱动机构；

所述限位轨道包括：进料口和出料口，所述料带通过进料口进入所述限位轨道并通过出料口离开所述限位轨道，所述剔除模组位于所述出料口远离所述进料口的一侧；

在所述计算模块确定料带存在缺陷颗粒，且缺陷颗粒移动至所述缺陷剔除装置的情况下，所述计算模块控制剔除驱动机构通过移动所述剔除模组，以使所述剔除模组将料带上的缺陷颗粒进行剔除。

2.根据权利要求1所述的LED支架缺陷检测及剔除设备，其特征在于，所述剔除模组包括：凸模和凹模；

所述凸模朝向所述凹模的一端固定设置有冲压头，所述凹模朝向所述冲压头的一端开设有冲压口，所述冲压口与所述冲压头适配；

在料带上的缺陷颗粒移动至所述凸模和所述凹模之间的情况下，所述剔除驱动机构带动所述冲压头通过所述冲压口与所述凹模插接，以将料带上的缺陷颗粒剔除。

3.根据权利要求2所述的LED支架缺陷检测及剔除设备，其特征在于，所述剔除驱动机构包括：用于带动所述凸模上下移动的冲压组件、用于带动所述凸模和所述凹模左右移动的平移组件，以及用于将所述冲压组件和所述平移组件固定在所述机柜内的支撑架；

在缺陷颗粒移动至所述凸模和所述凹模之间的情况下，所述平移组件带动所述凸模和所述凹模水平移动，以使缺陷颗粒位于所述冲压头和所述冲压口之间，所述冲压组件带动所述冲压头通过所述冲压口与所述凹模插接，以将缺陷颗粒剔除出料带。

4.根据权利要求3所述的LED支架缺陷检测及剔除设备，其特征在于，所述剔除驱动机构还包括：用于带动所述凹模上下移动的顶升组件；

在需要对料带进行剔除的情况下，所述顶升组件带动所述凹模向上移动，以使所述凹模与所述料带相抵触。

5.根据权利要求1所述的LED支架缺陷检测及剔除设备，其特征在于，所述缺陷检测装置还包括：用于驱动所述相机镜头移动的取像驱动机构；

所述取像驱动机构包括：与相机镜头固定连接的取像支座、用于带动所述取像支座上下移动的升降驱动组件、取像滑轨、与所述取像滑轨滑移连接的取像滑块；

所述升降驱动组件与所述机柜固定连接，所述取像滑轨固定设置于所述升降驱动组件的一侧，所述取像滑块与所述相机镜头固定连接，所述取像滑块相对所述取像滑轨的移动方向与所述升降驱动组件带动所述取像支座移动的方向相同。

6.根据权利要求1所述的LED支架缺陷检测及剔除设备，其特征在于，所述缺陷检测装置还包括：光源、第一支架、第二支架和固定设置于所述机柜内的第三支架；

所述光源位于所述限位轨道的上方，所述光源与所述第一支架固定连接，所述第一支架沿左右方向与所述第二支架滑移连接，所述第二支架沿上下方向与是第三支架滑移连接。

7.根据权利要求1所述的LED支架缺陷检测及剔除设备，其特征在于，所述LED支架缺陷检测及剔除设备还包括：压紧机构；

所述压紧机构包括：压紧滚轮、与所述压紧滚轮转动连接的升降支架、用于带动所述升降支架沿上下方向移动的压紧驱动件、位于所述限位轨道下方的支撑板，以及用于支撑所述压紧驱动件的压紧支架；

所述支撑板水平放置，所述压紧滚轮位于所述限位轨道的正上方，且所述压紧滚轮的转轴水平放置并与所述压紧滚轮下方的料带的传送方向垂直。