[发明专利]形成集成组合件的方法在审
申请号: | 202010018254.1 | 申请日: | 2020-01-08 |
公开(公告)号: | CN111668161A | 公开(公告)日: | 2020-09-15 |
发明(设计)人: | D·C·潘迪;K·M·卡尔达;刘海涛 | 申请(专利权)人: | 美光科技公司 |
主分类号: | H01L21/8242 | 分类号: | H01L21/8242;H01L27/108 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 王龙 |
地址: | 美国爱*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 形成 集成 组合 方法 | ||
本申请涉及形成集成组合件的方法。一些实施例包含一种形成集成组合件的方法。在构造之上形成导电块。所述导电块中的每个导电块位于包含一对存储元件接触区域和一个数位线接触区域的组之上。所述导电块中的每个导电块被第一绝缘材料完全侧向包围。移除所述导电块的中心区域,以将所述导电块中的每个导电块分成位于所述存储元件接触区域中的一个存储元件接触区域之上的第一导电部分和位于所述存储元件接触区域中的另一个存储元件接触区域之上的第二导电部分。在所述第一导电部分与所述第二导电部分之间形成第二绝缘材料。将数位线与所述数位线接触区域耦合,并且将存储元件与所述存储元件接触区域耦合。
技术领域
本发明涉及形成集成组合件的方法。
背景技术
存储器是一种类型的集成电路系统并且在计算机系统中用于存储数据。示例存储器是DRAM(动态随机存取存储器)。DRAM单元可以各自包括晶体管与电容器的组合。DRAM单元可以布置成阵列;其中字线沿阵列的行延伸,并且其中数位线沿阵列的列延伸。字线可以与存储器单元的晶体管耦合。可以通过字线之一与数位线之一的组合对每个存储器单元进行唯一寻址。
集成电路制造的持续目标是实现愈来愈高的集成水平,并且相关目标是将电路组件封装成愈加紧密的布置。使用常规制造工艺实现更紧密的存储器封装配置变得日益困难。因此,期望开发新的制造工艺。
发明内容
根据本申请的一方面,提供了一种形成集成组合件的方法。所述方法包括:提供具有有源区域柱的构造;所述有源区域柱中的每个有源区域柱具有细分为三个接触区域的上部部分;所述三个接触区域为两个存储元件接触区域和一个数位线接触区域;在所述构造之上形成导电块;所述导电块中的每个导电块位于由所述接触区域中的三个接触区域构成的组之上;每组包含一对所述存储元件接触区域和所述数位线接触区域中位于所述一对所述存储元件接触区域之间的一个数位线接触区域;所述接触区域中属于每组的所述三个接触区域与彼此相对不同的有源区域柱相关联;所述导电块中的每个导电块被第一绝缘材料完全侧向包围;移除所述导电块的中心区域,以将所述导电块中的每个导电块分成位于所述存储元件接触区域中的一个存储元件接触区域之上的第一导电部分和位于所述存储元件接触区域中的另一个存储元件接触区域之上的第二导电部分;在所述第一导电部分与所述第二导电部分之间形成第二绝缘材料;形成延伸穿过所述第二绝缘材料以与所述数位线接触区域耦合的数位线互连件;形成与所述数位线互连件耦合的数位线;以及形成通过所述第一导电部分和所述第二导电部分与存储元件接触区域耦合的存储元件。
根据本申请的另一方面,提供了一种形成集成组合件的方法。所述方法包括:提供具有有源区域柱的构造;所述有源区域柱中的每个有源区域柱具有细分为三个接触区域的上部部分;所述三个接触区域为两个存储元件接触区域和一个数位线接触区域;在所述构造之上形成沿第一方向延伸的第一轨道;所述第一轨道被中间间隙彼此间隔开;所述第一轨道包括第一绝缘材料;在所述中间间隙内形成与所述存储元件接触区域和所述数位线接触区域耦合的导电材料;所述导电材料形成第二轨道,所述第二轨道沿与所述第一方向正交的第二方向与所述第一轨道交替;使所述第二轨道图案化成间隔开的导电块;所述导电块中的每个导电块位于由所述接触区域中的三个接触区域构成的组之上;每组包含一对所述存储元件接触区域和所述数位线接触区域中位于所述一对所述存储元件接触区域之间的一个数位线接触区域;所述导电块中的每个导电块具有第一端部区域、第二端部区域和位于所述第一端部区域与所述第二端部区域之间的中心区域;在所述间隔开的导电块之间的空间中形成第二绝缘材料;使用第三绝缘材料代替所述导电块的所述中心区域;形成延伸穿过所述第三绝缘材料以与所述数位线接触区域耦合的数位线互连件;形成沿所述第二方向延伸并且与所述数位线互连件耦合的数位线;以及将存储元件与所述导电块中的每个导电块的所述第一端部区域和所述第二端部区域耦合。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造