[发明专利]封装体在审

专利信息
申请号: 201980097998.2 申请日: 2019-10-11
公开(公告)号: CN114072912A 公开(公告)日: 2022-02-18
发明(设计)人: 间濑淳;伊藤阳彦 申请(专利权)人: 日本碍子株式会社;NGK电子器件株式会社
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146
代理公司: 北京汇思诚业知识产权代理有限公司 11444 代理人: 王强;张黎
地址: 日本国爱知*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 封装
【权利要求书】:

1.一种封装体,具有:安设面,其供安装电子部件;腔室,其位于所述安设面上;及安装面,其供安装用于密封所述腔室的盖体,其中,

所述封装体具备:

基部,由陶瓷构成且具有所述腔室;及

布线部,从所述基部的所述腔室延伸并贯通所述基部,

所述基部包括:底部,具有所述安设面,该安设面具有将具有10mm以上的长边的长方形包含在内的大小;及框部,在所述底部上以包围所述腔室的方式设置于所述安设面的外侧,并具有所述陶瓷的烧成面作为所述安装面。

2.根据权利要求1所述的封装体,其中,

所述基部具有从所述安装面的外缘延伸的侧面,所述侧面包括断裂面,

所述陶瓷在所述安装面上具有1μm以上且3μm以下的平均粒径,在所述断裂面上具有3%以下的气孔率。

3.根据权利要求1或2所述的封装体,其中,

所述电子部件是具有将具有10mm以上的长边的长方形包含在内的大小的固态摄像元件。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的封装体,其中,

所述陶瓷含有Al2O3、SiO2和MnO作为必需成分,含有钼原子和Cr2O3中的至少一种作为任意成分,

Al2O3的含量为82.0质量%以上且95.0质量%以下,

SiO2的含量为3.0质量%以上且8.0质量%以下,

MnO的含量为2.0质量%以上且6.0质量%以下,

以MoO3换算的钼原子的含量与Cr2O3的含量的合计为4.0质量%以下,

余量的含量小于0.1质量%。

5.根据权利要求1至3中任一项所述的封装体,其中,

所述陶瓷含有Al2O3、SiO2和MnO作为必需成分,含有钼原子和Cr2O3中的至少一种作为任意成分,

Al2O3的含量为82.0质量%以上且95.0质量%以下,

SiO2的含量为3.0质量%以上且8.0质量%以下,

MnO的含量为2.0质量%以上且6.0质量%以下,

以MoO3换算的钼原子的含量与Cr2O3的含量的合计为4.0质量%以下,

余量的含量小于0.05质量%。

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