[发明专利]气相成长装置在审
申请号: | 201980086180.0 | 申请日: | 2019-11-05 |
公开(公告)号: | CN113396469A | 公开(公告)日: | 2021-09-14 |
发明(设计)人: | 和田直之;南出由生 | 申请(专利权)人: | 胜高股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/205 | 分类号: | H01L21/205;H01L21/677;H01L21/673;C23C16/458;C23C16/54 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 张泽洲;张一舟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 相成 装置 | ||
1.一种气相成长装置,前述气相成长装置具备支承晶圆的外边缘的环状的载具,使用多个该载具,将多个处理前的晶圆从晶圆收纳容器经由工厂接口、装载锁定室及晶圆移载室向反应室顺次搬运,并且将多个处理后的晶圆从前述反应室经由前述晶圆移载室、前述装载锁定室及前述工厂接口向前述晶圆收纳容器顺次搬运,其特征在于,
前述装载锁定室经由第1门与前述工厂接口连通,并且经由第2门与前述晶圆移载室连通,
前述晶圆移载室经由闸门阀与在前述晶圆形成CVD膜的前述反应室连通,
在前述晶圆移载室设置有第1机器人,前述第1机器人将被向前述装载锁定室搬运来的处理前的晶圆在搭载于载具的状态下投入前述反应室,并且将在前述反应室中结束处理的处理后的晶圆在搭载于载具的状态下从前述反应室取出,向前述装载锁定室搬运,
在前述工厂接口设置有第2机器人,前述第2机器人将处理前的晶圆从晶圆收纳容器取出,搭载于在前述装载锁定室待机的载具,并且将被向前述装载锁定室搬运来的搭载于载具的处理后的晶圆收纳于晶圆收纳容器,
在前述装载锁定室,至少设置有支承载具的最上层的第1架、在前述第1架的下部支承载具的第2架,
在前述气相成长装置中,前述第2机器人将从前述晶圆收纳容器取出的处理前的晶圆,搭载于在前述装载锁定室的前述第1架待机的载具。
2.如权利要求1所述的气相成长装置,其特征在于,
前述第1机器人将前述第2机器人从前述晶圆收纳容器取出的处理前的晶圆搭载于在前述装载锁定室的前述第1架待机的载具时,在前述第1架不存在载具的情况下,将支承于前述第2架的载具向前述第1架移载。
3.如权利要求1或2所述的气相成长装置,其特征在于,
前述第1机器人将在前述反应室结束处理的处理后的晶圆在搭载于载具的状态下从前述反应室取出,向前述装载锁定室的第2架搬运。
4.如权利要求1至3中任一项所述的气相成长装置,其特征在于,
在前述装载锁定室,设置有在前述第2架的下部支承载具的第3架。
5.如权利要求1至4中任一项所述的气相成长装置,其特征在于,
前述第1机器人在其上表面具备搭载前述载具的第1叶片。
6.如权利要求5所述的气相成长装置,其特征在于,
在前述第1叶片的上表面,形成有与前述载具的外周侧壁面的一部分对应的凹部。
7.如权利要求1至6中任一项所述的气相成长装置,其特征在于,
前述第2机器人在其上表面具备搭载前述晶圆的第2叶片。
8.如权利要求1至7中任一项所述的气相成长装置,其特征在于,
前述CVD膜是硅外延膜。
9.一种气相成长处理方法,在前述气相成长处理方法中,具备支承晶圆的外边缘的环状的载具,使用多个该载具,将多个处理前的晶圆从晶圆收纳容器经由工厂接口、装载锁定室及晶圆移载室向反应室顺次搬运,并且将多个处理后的晶圆从前述反应室经由前述晶圆移载室、前述装载锁定室及前述工厂接口向前述晶圆收纳容器顺次搬运,其特征在于,
在前述晶圆移载室,经由第1门与前述工厂接口连通,并且经由第2门与前述晶圆移载室连通,
前述晶圆移载室经由闸门阀与在前述晶圆形成CVD膜的前述反应室连通,
在前述晶圆移载室设置有第1机器人,前述第1机器人将被向前述装载锁定室搬运来的处理前的晶圆在搭载于载具的状态下投入前述反应室,并且将在前述反应室中结束处理的处理后的晶圆在搭载于载具的状态下从前述反应室取出,向前述装载锁定室搬运,
在前述工厂接口设置有第2机器人,前述第2机器人将处理前的晶圆从晶圆收纳容器取出,搭载于在前述装载锁定室待机的载具,并且将被向前述装载锁定室搬运来的搭载于载具的处理后的晶圆收纳于晶圆收纳容器,
在前述装载锁定室,至少设置有支承载具的最上层的第1架、在前述第1架的下部支承载具的第2架,
前述第2机器人将从前述晶圆收纳容器取出的处理前的晶圆,搭载于在前述装载锁定室的前述第1架待机的载具,
在前述气相成长处理方法中,前述第1机器人将前述第2机器人从前述晶圆收纳容器取出的处理前的晶圆搭载于在前述装载锁定室的前述第1架待机的载具时,在前述第1架不存在载具的情况下,将支承于前述第2架的载具移载至前述第1架。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于胜高股份有限公司,未经胜高股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201980086180.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造