[发明专利]图像校正

说明书

在一个实施例中，公开了一种用于利用X射线检查货物的方法，包括：用包括至少两行检测器的矩阵扫描货物，其中，货物的由第一X射线脉冲照射的每个区域由至少一个第二X射线脉冲照射，并且与第一X射线脉冲相对应的辐射由矩阵的第一行检测，并且与至少一个第二脉冲相对应的辐射由矩阵的至少一个第二行检测；生成针对所述矩阵的所述第一行的所述货物的第一图像和针对所述矩阵的所述至少一个第二行的所述货物的至少一个第二图像；针对所述货物的由所述第一X射线脉冲和由所述至少一个第二X射线脉冲照射的每个区域，通过确定所述第一图像和所述至少一个第二图像的对应像素之间的局部相互移位来确定所述货物与所述矩阵之间的局部相互寄生移位；通过对所确定的局部相互移位求和来确定总相互寄生移位；以及基于第一图像和至少一个第二图像中的至少一者以及基于所确定的总相互寄生移位，生成没有相互寄生移位的货物的校正图像。

技术领域

本公开涉及但不限于一种利用X射线检查货物的方法。本公开还涉及但不限于相应的检查系统和相应的计算机产品或计算机程序。

背景技术

利用X射线检查货物可以通过以下方式进行：使货物和包括检测器的扫描仪相互移位一相互扫描移位来扫描货物，并且利用扫描仪检测在相互扫描移位期间由照射货物的多个连续X射线脉冲产生的辐射。

在移动模式中，使货物和扫描仪相互移位包括在相互扫描移位期间使货物相对于地面保持静止并且使扫描仪相对于地面移位。

在通过式或门式模式中，使货物和扫描仪相互移位包括在扫描移位期间使扫描仪相对于地面保持静止并且使货物相对于地面移位。

在移动模式中，即使在平坦地面上，检测器也可能具有垂直和纵向(例如，在相互扫描移位的方向上)寄生移位(例如，诸如垂直移位、旋转移位和/或钟摆移位)，这可能导致图像伪影(artefact)并降低图像质量。检测器的寄生移位可能产生波，使得大多数真实直线可能不会在基于检查而产生的图像上表现为直线。

在通过式模式中，货物的速度可能是不规则的，这也可能导致图像伪影并降低图像质量。速度的不均匀性可能导致图像上的水平拉伸或压缩。这些伪影表现为局部水平寄生移位。

发明内容

本发明的方面和实施例在所附权利要求中阐述。本发明的这些和其它方面和实施例也在此描述。

附图说明

现在将参考附图通过示例的方式描述本公开的实施例，其中：

图1示出了示出根据本公开的示例方法的流程图；

图2示意性地示出了被配置为至少部分地实现图1的示例方法的示例系统；

图3示出了根据本公开的示例矩阵；

图4示意性地示出了由第一X射线脉冲P1和由至少一个第二X射线脉冲(即脉冲P2、P3、P4和P5)辐射的货物的示例区域Z1；

图5示意性地示出了叠加在相互扫描移位SD上的示例性相互寄生垂直移位PDy；

图6A和6B示意性地示出了不同行的简化图像的示例，其中图6A示意性地示出了没有对扫描移位SD进行校正的图像，并且图6B示意性地示出了具有对扫描移位SD进行校正的图像；

图7示意性地示出了来自两个不同检测行(例如，行1和行5)的两个图像之间的移位场和瞬时移位场的估计；

图8A示意性地示出了所获取的图像的坐标；

图8B示意性地示出了图8A的所获取图像的实际位置的坐标；以及

图9A和9B示意性地示出了对于给定像素(i'，j')，如何确定其图像由于失真而重叠(i'，j')的像素(i，j)。

在附图中，类似的元件具有相同的附图标记。

具体实施方式