[发明专利]图像校正在审
申请号: | 201980065314.0 | 申请日: | 2019-09-27 |
公开(公告)号: | CN112997213A | 公开(公告)日: | 2021-06-18 |
发明(设计)人: | S·麦特简;G·杰古;J-M·福吉耶;C·贝格拉特 | 申请(专利权)人: | 史密斯探测法国股份公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T5/00;G01V5/00 |
代理公司: | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人: | 肖冰滨;王晓晓 |
地址: | 法国塞纳*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 图像 校正 | ||
1.一种用于利用X射线检查货物的方法,该方法包括:
用包括至少两行检测器的矩阵扫描所述货物,包括:
利用相互扫描移位,使所述货物和所述矩阵相互移位;以及
在所述相互扫描移位期间,利用所述矩阵检测由照射所述货物的多个连续X射线脉冲产生的辐射;
其中,所述货物的由第一X射线脉冲照射的每个区域由至少一个第二X射线脉冲照射;以及
其中,对应于所述第一X射线脉冲的辐射由所述矩阵的第一行检测,并且对应于所述至少一个第二脉冲的辐射由所述矩阵的至少一个第二行检测;
生成针对所述矩阵的所述第一行的所述货物的第一图像和针对所述矩阵的所述至少一个第二行的所述货物的至少一个第二图像,
其中,每个图像包括与针对每个X射线脉冲的探测器的所述行相对应的像素;
针对所述货物的由所述第一X射线脉冲和由所述至少一个第二X射线脉冲照射的每个区域,通过确定所述第一图像和所述至少一个第二图像的对应像素之间的局部相互移位,确定所述货物与所述矩阵之间的至少一个局部相互寄生移位,所述局部相互寄生移位:
发生在所述第一脉冲和所述至少一个第二X射线脉冲之间;以及
不同于在所述第一脉冲和至少一个第二脉冲之间发生的所述相互扫描移位;
从与所述货物的所述扫描的开始相关联的X射线脉冲到与所述货物的所述扫描的结束相关联的X射线脉冲,通过针对所被照射区域的所确定的局部相互移位求和,确定至少一个总相互寄生移位;以及
基于所述第一图像和所述至少一个第二图像中的至少一者以及基于所确定的至少一个总相互寄生移位,生成所述货物的至少一个校正图像。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,扫描所述货物包括:以移动模式扫描所述货物,并且使所述货物和所述矩阵相互移位包括:
在所述扫描移位期间,使所述货物相对于地面保持静止,并使所述矩阵相对于所述地面移位。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其中扫描所述货物包括:将所述矩阵安装在移动检查系统的悬臂上。
4.根据权利要求2和3所述的方法,其中,生成所述校正图像包括:
校正在所述移动模式中生成的悬臂移动伪影。
5.根据权利要求1所述的方法,其中,扫描所述货物包括:以通过式模式扫描所述货物,并且使所述货物和所述矩阵相互移位包括:
在所述扫描移位期间,使所述矩阵相对于地面保持静止,并且使所述货物相对于所述地面移位。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的方法,其中,扫描所述货物包括:
将所述矩阵安装在静态检查系统的悬臂上。
7.根据权利要求5和6所述的方法,其中,生成所述校正图像包括:
校正在通过式模式中产生的货物速度不均匀性。
8.根据权利要求1至7中任一项所述的方法,其中确定所述局部相互寄生移位包括:
使用图像交叉相关技术和能量最小化技术中的至少一者。
9.根据权利要求1至8中任一项所述的方法,其中,在像素(x,y)处生成所述至少一个校正图像包括:
将每个像素(x,y)平移对应于总的相互寄生移位的量-Dx和-Dy,使得:
其中,Δx(x,y)和Δy(x,y)是在水平扫描方向(Ox)和垂直方向(Oy)上的所述局部寄生移位。
10.根据权利要求9所述的方法,其中,包括:
确定与所述矩阵的行p和行q相对应的两个图像Ip(x,y)和Iq(x,y)之间的移位场,使得:
Δx((p-q),y)=[Δpx(x,y)-Δqx(x,y)]/(p-q)
Δy((p-q),y)=[Δpy(x,y)-Δqy(x,y)]/(p-q)。
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