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[发明专利]用于检查系统的检测器和方法-CN201880027063.2有效
发明人： G·杰古;J-M·福吉耶 -专利权人：德国史密斯海曼简化股份公司
申请日： 2018-03-09 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G01T1/20 文献下载
摘要：在一个实施方式中，提供了一种用于检查系统的检测器(1)，包括：至少一个第一闪烁体(3)，所述第一闪烁体被配置为响应于与检查辐射脉冲(5)的相互作用而在第一波长域中重新发射第一光线(6)；至少一个第二闪烁体(4)，所述第二闪烁体被配置为响应于与所述检查辐射脉冲(5)的相互作用，在不同于所述第一波长域的第二波长域中重新发射第二光线(7)；以及至少一个第一传感器(8)，所述第一传感器被配置为测量所述第一光线(6)而不是所述第二光线(7)。
用于检查系统检测器方法

[发明专利]具有交错列的检测器矩阵-CN202180035928.1在审
发明人： S·麦特简;J-M·福吉耶;T·波色里尔;E·盖瑟 -专利权人：史密斯探测法国股份公司
申请日： 2021-05-17 - 公布日： 2023-02-03 - 主分类号： G01V5/00 文献下载
摘要：在一个示例中，提供了一种被配置成在用于使用检查辐射检查货物的系统中被使用的检测器矩阵，该矩阵包括多列检测器模块，每列的所述检测器模块沿基本纵向方向延伸，每个检测器模块包括配置成接收检查辐射的表面，以及所述多列检测器模块在基本垂直于所述纵向方向并且基本平行于所述检测器模块的所述表面的横向方向上彼此相邻，其中，所述多列检测器模块包括在基本垂直于所述横向方向和所述纵向方向两者的深度方向上相对于彼此偏移的至少两列检测器模块。
具有交错检测器矩阵

[发明专利]图像校正-CN201980065314.0在审
发明人： S·麦特简;G·杰古;J-M·福吉耶;C·贝格拉特 -专利权人：史密斯探测法国股份公司
申请日： 2019-09-27 - 公布日： 2021-06-18 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：在一个实施例中，公开了一种用于利用X射线检查货物的方法，包括：用包括至少两行检测器的矩阵扫描货物，其中，货物的由第一X射线脉冲照射的每个区域由至少一个第二X射线脉冲照射，并且与第一X射线脉冲相对应的辐射由矩阵的第一行检测，并且与至少一个第二脉冲相对应的辐射由矩阵的至少一个第二行检测；生成针对所述矩阵的所述第一行的所述货物的第一图像和针对所述矩阵的所述至少一个第二行的所述货物的至少一个第二图像；针对所述货物的由所述第一X射线脉冲和由所述至少一个第二X射线脉冲照射的每个区域，通过确定所述第一图像和所述至少一个第二图像的对应像素之间的局部相互移位来确定所述货物与所述矩阵之间的局部相互寄生移位；通过对所确定的局部相互移位求和来确定总相互寄生移位；以及基于第一图像和至少一个第二图像中的至少一者以及基于所确定的总相互寄生移位，生成没有相互寄生移位的货物的校正图像。
图像校正