[发明专利]非晶相的定量分析装置、分析方法及分析程序

说明书

本发明提供了一种能够更简便地对包含一个非晶相和样品进行定量分析的定量分析装置。该非晶相的定量分析装置包括粉末衍射图取得单元、定性分析结果取得单元、取得针对一个或多个晶相的拟合函数的拟合函数取得单元、使用取得的拟合函数对样品的粉末衍射图执行的全图拟合单元、和计算一个非晶相和一个或多个晶相的重量比的重量比计算单元，针对一个或多个晶相的拟合函数分别为使用通过全图分解而得到的积分强度的第一拟合函数、使用通过观测或计算的积分强度的第二拟合函数、使用通过观测或计算的分布强度的第三拟合函数中的一个，对一个非晶相使用第三拟合函数。

技术领域

本发明涉及一种基于样品粉末衍射图来定量分析样品的各成分的非晶相的定量分析装置、非晶相的定量分析方法及非晶相的定量分析程序。特别是涉及含有非晶质成分的样品的定量分析。

背景技术

当样品是含有一个非晶相及一个或多个晶相的混合物样品时，通过使用例如X射线衍射装置的测量来获得样品的粉末衍射图。某个晶相的粉末衍射图是其晶相固有的，并且该样品的粉末衍射图是基于含量将样品中包含的一个非晶相及一个或多个晶相各自的粉末衍射图相加而成的粉末衍射图。另外，在本说明书中，晶相是结晶质的纯物质固体，具有化学组成和晶体结构。非晶相是纯物质固体，指没有结晶质那样的长程有序，但短程有序的物质。

定性分析是分析样品中存在什么样的物质。定量分析是分析样品中含有的物质以怎样的量比存在。在此，作为进行定量分析的前提，已经完成了样品中包含的物质的定性分析。

很难分析非晶相的粉末衍射图(非晶相光晕)。因此，例如，如非专利文献1所公开的那样，现有的方法是，当样品中包含非晶相(非晶质成分)时，在样品中添加标准物质(SRM)，以标准物质的粉末衍射图为基准，进行非晶相的定量分析等。

现有技术文献。

非专利文献。

非专利文献1:G.DeLa Torre，S.Bruque and M.A.G.Aranda，Rietveldquantitative amorphous content analysis，J.Appl.Cryst.，2001年，第50，196-202页

非专利文献2:Hideo TorayaA new method for quantitative phase analysisusing X-ray powder diffraction:direct derivation of weight fractions fromobserved integrated intensities and chemical compositions of individualphases，J.Appl.Cryst.，2016年，第49，1508-1516页

非专利文献3:Hideo Toraya，Quantitative phase analysis using observedintegrated intensities and chemical composition data of individualcrystalline phases:quantification of materials with indefinite chemicalcompositions，J.Appl.Cryst.，2017年，第50，820-829页

非专利文献4:Alexander,L.E.Klug,H.P.，Anal.Chem.，1948年，第20，886-889页。

非专利文献5:Chung,F.H.，Quantitative Interpretation of X-rayDiffraction Patterns of Mixtures.I.Matrix-Flushing Method for QuantitativeMulticomponent Analysis，J.Appl.Cryst.，1974年，第7，519-525页