[实用新型]一种多功能半导体三极管测试装置

说明书

本实用新型涉及三极管测试设备技术领域，具体为一种多功能半导体三极管测试装置，包括测试电箱，测试电箱的内腔设置有测试电路，测试电箱的前端面上端设置有螺纹孔，螺纹孔的内腔安装有插座，插座的前端插接有插头，有益效果为：本实用新型通过设置带有接线柱的插座与测试电路连接，进而避免与电路导线之间多次连接，利用插座与插头之间的配合，实现多个不同规格插头的快速更换，进而利用插头匹配不同规格的三极管，增大适用范围；通过设置连接插片与金属拨片之间的贴合，实现三极管与电路之间的快速安装，利用插孔与引线的配合，避免导线与引线之间的缠绕连接，提高了安装和测试效率。

技术领域

本实用新型涉及三极管测试设备技术领域，具体为一种多功能半导体三极管测试装置。

背景技术

半导体三极管是一种控制电流的半导体器件。其作用是把微弱信号放大成幅度值较大的电信号，也用作无触点开关。

在半导体三极管研究过程中，需要对其进行多种数据的检测测试，进而了解半导体三极管的具体物理电学特性，在测试过程中由于半导体三极管的连接方式为引线引出式，而引线与电路之间的安装不便，不利于半导体三极管的快速安装，同时由于各半导体三极管的引线之间的间隙不同，故而插头与半导体三极管之间的插接需要将引线进行弯曲，容易造成引线折断。

为此提供一种多功能半导体三极管测试装置，以解决三极管引线与测试电路之间的快速安装问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种多功能半导体三极管测试装置，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种多功能半导体三极管测试装置，包括测试电箱，所述测试电箱的内腔设置有测试电路，测试电箱的前端面上端设置有螺纹孔，所述螺纹孔的内腔安装有插座，所述插座的前端插接有插头，插座的后端面设置有圆周阵列设置有三个圆弧状的金属拨片，所述金属拨片的圆弧外壁设置有接线柱，所述插头的前端面设置有凸台，插头的后端面设置有与金属拨片相对应的三个圆周阵列分布的连接插片，所述凸台的前端设置有线性分布的三个插孔，凸台的外壁设置有三个圆周阵列分布的指示凹槽，所述插孔与测试元件的引线配合插接，所述指示凹槽位置与相邻连接插片之间的间隔相对应，所述连接插片的前端连接插孔，连接插片的后端外壁延伸至金属拨片的内壁。

优选的，所述测试电箱的前端面下端设置有显示屏，测试电箱的前端面中间位置设置有开关按钮，所述显示屏和开关按钮均与测试电路电性连接。

优选的，所述插座的前端外壁设置有第二外螺纹，插座通过第二外螺纹与螺纹孔之间的配合安装在测试电箱的前端。

优选的，所述插头的中间段外壁设置有第一外螺纹，所述插座的前端内壁设置有内螺纹，所述第一外螺纹与内螺纹配合螺纹连接。

优选的，所述接线柱的一端电性连接金属拨片，接线柱的另一端连接测试电箱内腔测试电路的导线，相邻所述金属拨片之间固定粘结有内径相同的绝缘插块。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1.本实用新型通过设置带有接线柱的插座与测试电路连接，进而避免与电路导线之间多次连接，利用插座与插头之间的配合，实现多个不同规格插头的快速更换，进而利用插头匹配不同规格的三极管，增大适用的范围；

2.本实用新型通过设置连接插片与金属拨片之间的贴合，实现三极管与电路之间的快速安装，利用插孔与引线的配合，避免导线与引线之间的缠绕连接，提高了安装和测试效率。

附图说明

图1为本实用新型的主视图；

图2为本实用新型的插座与插头安装爆炸图。