[实用新型]一种用于芯片封装后的测试装置有效
申请号: | 201920849535.4 | 申请日: | 2019-06-05 |
公开(公告)号: | CN210489579U | 公开(公告)日: | 2020-05-08 |
发明(设计)人: | 魏涛 | 申请(专利权)人: | 上海禾馥电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66;H01L21/687 |
代理公司: | 上海宏京知识产权代理事务所(普通合伙) 31297 | 代理人: | 冯华 |
地址: | 200120 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 芯片 封装 测试 装置 | ||
本实用新型公开了一种用于芯片封装后的测试装置,包括外框、螺纹杆、旋转座、旋转杆、封装板、内板、移动装置和侧固定板,外框的内部固定安装有螺纹杆,螺纹杆上活动安装有旋转座,旋转座的顶端固定连接有旋转杆,旋转座的下方设有封装板,封装板的底端设有内板,内板的下方设有移动装置。本实用新型用于芯片封装后的测试装置,通过将芯片放置到安装槽内,将外板放置到内板的顶端,旋转座的底端对外板进行锁紧固定,液压杆带动移动板向内板的方向运动,对内板顶端的外板进行夹紧,活动座本体内部的弹簧发生弯曲,对安装槽内部的芯片进行保护,能够对芯片封装组件进行固定,并对内部芯片进行保护,而后对其内部的芯片进行压力测试。
技术领域
本实用新型涉及芯片封装技术领域,具体为一种用于芯片封装后的测试装置。
背景技术
诸如平板电脑,计算机,复印机,数码相机,智能电话,控制系统和自动取款机等电子设备通常采用电子部件,该电子部件利用芯片封装组件来获取增加的功能和更高的组件密度,随着芯片封装组件越来越普及,能用到芯片封装组件的地方越多,可能会使芯片封装组件遇到不同的状况,例如受到挤压后,芯片封装组件可能会发生损坏,从而造成损失,因此需要对芯片封装组件的抗压能力进行一定的测试。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种用于芯片封装后的测试装置,能够对芯片封装组件进行固定,并对内部芯片进行保护,而后对其内部的芯片进行压力测试,可以解决现有技术中的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种用于芯片封装后的测试装置,包括外框、螺纹杆、旋转座、旋转杆、封装板、内板、移动装置和侧固定板,所述外框的内部固定安装有螺纹杆,所述螺纹杆上活动安装有旋转座,所述旋转座的顶端固定连接有旋转杆,所述旋转座的下方设有封装板,所述封装板的底端设有内板,所述内板的下方设有移动装置,所述封装板的一侧设有侧固定板,所述侧固定板固定安装在外框上;
所述封装板包括外板、安装槽、活动座和边板,所述外板的内部开设有安装槽,所述安装槽的两侧设有活动座,所述安装槽的两端设有边板,所述边板固定安装在外板上。
优选的,所述活动座包括活动座本体、活动槽、限位角和弹簧,所述活动座本体活动安装在活动槽的内部,所述活动座本体的底端固定连接有限位角,所述活动座本体的内部固定连接有弹簧,所述弹簧远离活动座本体的一端固定安装在外板上。
优选的,所述移动装置包括液压杆底座、液压杆、杆套、移动板、固定杆、移动套和连接杆,所述液压杆底座的顶端与内板固定连接,所述液压杆底座的内部固定安装有液压杆,所述液压杆的一端固定连接有杆套,所述杆套的顶端固定安装有移动板,所述移动板被固定杆所贯穿,所述固定杆上活动安装有移动套,所述移动套的底端固定连接有连接杆,所述连接杆远离移动套的一端固定安装在杆套上。
优选的,所述固定杆固定安装在内板的内部。
优选的,所述旋转座与旋转杆的内部均开设有螺纹槽。
优选的,所述固定杆的外表面做抛光处理。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果如下:
本实用新型用于芯片封装后的测试装置,通过将芯片放置到安装槽内,握住外板两侧边板的防滑垫,将外板放置到内板的顶端,正转旋转杆,通过旋转座与旋转杆的内部均开设有螺纹槽,使旋转座与旋转杆下降,旋转座的底端对外板进行锁紧固定,启动液压杆,通过液压杆与杆套之间固定连接,杆套上固定安装有移动板,液压杆带动移动板向内板的方向运动,对内板顶端的外板进行夹紧,外板远离移动板的一侧贴紧在侧固定板上,外板向安装槽方向靠拢,外板的形变与活动座本体相互挤压,活动座本体内部的弹簧发生弯曲,限位角进入到活动槽中,对安装槽内部的芯片进行保护,能够对芯片封装组件进行固定,并对内部芯片进行保护,而后对其内部的芯片进行压力测试。
附图说明
图1为本实用新型的正面剖视图;
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造