[发明专利]氧化镓半导体结构、垂直型氧化镓基功率器件及制备方法有效
| 申请号: | 201911174463.9 | 申请日: | 2019-11-26 |
| 公开(公告)号: | CN111223782B | 公开(公告)日: | 2020-10-20 |
| 发明(设计)人: | 欧欣;徐文慧;游天桂;沈正皓 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
| 主分类号: | H01L21/34 | 分类号: | H01L21/34;H01L29/78;H01L29/06 |
| 代理公司: | 上海泰能知识产权代理事务所 31233 | 代理人: | 宋缨 |
| 地址: | 200050 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 氧化 半导体 结构 垂直 功率 器件 制备 方法 | ||
本发明提供一种氧化镓半导体结构、垂直型氧化镓基功率器件及制备方法,通过键合和减薄,将非故意掺杂的氧化镓层转移到高掺杂、高导热的异质衬底上,通过对氧化镓层的表面处理及离子注入,可获得重掺氧化镓层,制备包括依次叠置异质衬底、氧化镓层及重掺氧化镓层的氧化镓半导体结构;在基于氧化镓半导体结构制备的垂直型氧化镓基功率器件中,由于中间层为较厚的氧化镓层,且相较于重掺氧化镓层,载流子浓度较低,设计上增加了器件的击穿电压,且由于高导热的异质衬底可提高器件的散热能力,其次器件多Fin的结构可提供大电流,对未来垂直型氧化镓基高功率器件的发展有极其重要的意义。
技术领域
本发明属于半导体制造领域,涉及一种氧化镓半导体结构、垂直型氧化镓基功率器件及制备方法。
背景技术
氧化镓(Ga2O3)是一种超宽禁带的半导体材料,禁带宽度(4.5eV~4.9eV),相比于氮化镓(GaN)和碳化硅(SiC),其禁带宽度更大、击穿场强更高,同时由于制备方法简单,可使生产成本更低,进而在超高耐压功率电子器件方面引起科研界和工业界的极大关注。
氧化镓基高耐压、大功率器件,在新能源电动汽车、超高压输电、高速铁路及电磁轨道炮等民用和军事关键领域具有巨大的应用前景,尤其随着军事装备逐步向信息化、智能化、电子化方向的发展,氧化镓基高耐压、大功率电力电子器件将可能替代硅基、碳化硅基和氮化镓基功率器件,成为航空航天、舰艇船舶、特种武器所需电源供给、高效驱动等功率模块的核心部件,是系统在高温、高频、高功率及极端环境条件下能否工作的必要保证,因此在军事国防建设方面,具有非常迫切的应用需求。同时,氧化镓基大功率器件还将应用于变频器、高铁机车、新能源发电系统中的逆变器,以及高压直流(HVDC)输电系统等民用领域中。特别需要指出的是,随着航空航天装备不断向高集成度、多功能、低功耗方向的发展,迫切需要小型化、高性能、高效率、高可靠性的电子元器件,以降低功耗、提高系统的响应速度、降低运行噪声。而在人造卫星、太空探测等领域,功率器件会受到空间辐照环境影响,因此禁带宽度更宽、抗辐照性能更优的氧化镓基功率器件无疑是理想选择。
在氧化镓基功率器件中,存在横向和垂直两种结构的器件,对于高功率器件来说,根据目前的进展,垂直结构更受业内人士的青睐。目前采用同质外延的方法制备氧化镓晶体管,即在氧化镓衬底上通过外延法制备氧化镓薄膜,以制备氧化镓晶体管,取得了不错的突破。因为这种结构不仅仅能提供高的击穿电压,同时也能通过结构设计做到超大电流,这样使得氧化镓在未来的发展中充满了前景,但是同质的氧化镓衬底存在着导热率低的致命缺点,尤其是在高功率器件中,器件所产生的热流不能很好的排出,会严重降低器件的性能。
因此,为制备垂直型氧化镓基高功率器件,迫切需要将氧化镓转移到高掺杂、高导热的异质衬底上,以解决低热导率的问题。然而由于氧化镓与硅、碳化硅等多种高导热、高掺杂的半导体材料存在晶格失配的问题,使其不能通过外延的方法生长出良好的氧化镓薄膜,从而难以制备垂直型氧化镓基高功率器件。
基于此,提供一种新型的氧化镓半导体结构、垂直型氧化镓基功率器件及制备方法,实属必要。
发明内容
鉴于以上所述现有技术的缺点,本发明的目的在于提供一种氧化镓半导体结构、垂直型氧化镓基功率器件及制备方法,用于解决现有技术中,在制备垂直型氧化镓基高功率器件时,所面临的难以在高掺杂、高导热的异质衬底上制备高质量的氧化镓薄膜,导致难以制备垂直型氧化镓基高功率器件的问题。
为实现上述目的及其他相关目的,本发明提供一种氧化镓半导体结构的制备方法,包括以下步骤:
提供氧化镓单晶晶片,所述氧化镓单晶晶片的一表面为抛光面;
提供异质衬底,所述异质衬底的一表面为抛光面;
将所述氧化镓单晶晶片的抛光面与所述异质衬底的抛光面键合;
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