[发明专利]一种利用铟磷混合物制备磷化铟晶体的系统在审

专利信息
申请号: 201911155614.6 申请日: 2019-11-22
公开(公告)号: CN110760931A 公开(公告)日: 2020-02-07
发明(设计)人: 孙聂枫;王书杰;史艳磊;邵会民;付莉杰;李晓岚;王阳;徐森锋;刘惠生;孙同年 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第十三研究所
主分类号: C30B29/40 分类号: C30B29/40;C30B15/00
代理公司: 13123 石家庄众志华清知识产权事务所(特殊普通合伙) 代理人: 王苑祥;张永霞
地址: 050000 河北*** 国省代码: 河北;13
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 合成 坩埚 铟磷 磷化铟晶体 升降机构 翻转 混合球 生长室 送料管 投料器 投料室 装料室 籽晶杆 坩埚杆 室内 炉体 半导体技术领域 电气控制系统 冷却循环系统 旋转升降机构 压力控制系统 产业化生产 充放气系统 混合物制备 装料 称重系统 炉体分隔 真空系统 顶盖 投送 氧化硼 插板 提拉 投料 分隔 生长 延伸 覆盖
【说明书】:

发明一种利用铟磷混合物制备磷化铟晶体的系统,本发明属于半导体技术领域,包括真空系统、充放气系统、温度与压力控制系统、电气控制系统、冷却循环系统、称重系统和炉体,炉体上设置有坩埚杆旋转升降机构和籽晶杆升降机构,关键在于:所述炉体分隔为合成生长室、投料室及装料室,装料室和投料室借助插板分隔,装料室内设置翻转投料器,投料室内设置送料管,送料管一端对接翻转投料器,一端延伸至合成生长室内的坩埚内形成铟磷混合球投送结构;坩埚定位在坩埚杆上,籽晶杆升降机构设置在合成生长室顶盖上。可将铟磷混合球快速投入到覆盖有液态氧化硼的坩埚中,合成后后,原位提拉形成磷化铟晶体,合成速度更快,利于产业化生产。

技术领域

本发明属于半导体技术领域,涉及磷化铟的制备,具体涉及利用铟磷混合球合成磷化铟的方法。

背景技术

磷化铟(InP)是由III族元素铟(In)和V族元素磷(P)化合而成的III-V族化合物半导体材料,在半导体材料领域具有非常重要的战略性地位,是目前光电器件和微电子器件不可替代的半导体材料。与锗、硅材料相比,InP具有许多优点:直接跃迁型能带结构,具有高的电光转换效率;电子迁移率高,易于制成半绝缘材料,适合制作高频微波器件和电路;工作温度高;具有强的抗辐射能力;作为太阳能电池材料的转换效率高等。因此,InP等材料被广泛应用在固态发光、微波通信、光纤通信、微波、毫米波器件、抗辐射太阳能电池等高技术领域。随着能带工程理论、超薄材料工艺技术及深亚微米制造技术的进展,InP也越来越显示出其在高端微波、毫米波电子器件和光电子器件方面的优势,成为毫米波高端器件的首选材料,受到广泛的重视,开发应用前景非常广阔。高端InP基微电子和光电子器件的实现取决于具有良好完整性、均匀性和热稳定性的高质量InP单晶的制备。高纯、不同熔体配比、无夹杂的InP多晶料是生产高质量InP单晶及进行InP相关特性研究的前提条件。InP单晶的很多特性都与起始原料,即多晶材料的特性相关,如多晶材料的配比度、材料的纯度。多晶材料的特性对晶体生长、晶体的电学表现、晶体的完整性、均匀性等都有很大的影响。

目前,几种常用的合成InP多晶料的方法及其存在的问题如下:

(1)水平Bridgman法(HB)和水平梯度凝固法(HGF):采用水平Bridgman法(HB)和水平梯度凝固法(HGF)合成InP材料,从工艺上讲,合成量越大则合成时间越长,一般用HB/HGF技术合成1.5KgInP多晶需24h左右,因此Si的沾污也越明显(其来源是石英管壁)。

(2)磷注入法合成技术:磷注入法合成技术是将气化的磷蒸气注入到铟熔体中,加速磷气体与铟熔体的接触面积、并通过坩埚旋转增加铟熔体内的对流,加快溶质扩散层中溶质的扩散,从而加快合成过程。由于该方法是依靠石英磷容器的内外压强差来注入磷蒸气,一旦压强差控制不当,很容易发生炸泡;另一方面,部分磷蒸气不被铟熔体吸收,一方面影响合成效果,另一方面,损失的磷蒸气挥发至炉体中,给炉体清洗带来很大的麻烦。而且其对合成系统中的热场控制要求非常高。

上述的水平Bridgman法(HB)、水平梯度凝固法(HGF)及超高压直接合成技术等合成方法,都是先在合成炉中进行InP合成,然后将合成的InP多晶料从合成炉中取出,对多晶材料进行清洗腐蚀处理,然后再装入高压单晶炉内进行InP单晶生长。合成与晶体生长是采用“两步”法进行的,这就大大增加了材料被沾污的可能性,并且增加了材料制备成本。

发明内容

本发明提供了一种利用铟磷混合物制备磷化铟的系统,可以将铟磷混合球快速投入到覆盖有液态氧化硼的坩埚中,待达到所需的合成量后,对铟-磷熔体提拉形成磷化铟晶体,可使合成速度更快,降低控制要求,利于产业化生产。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第十三研究所,未经中国电子科技集团公司第十三研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201911155614.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top