[发明专利]一种BGA芯片快速植球方法在审
申请号: | 201911078107.7 | 申请日: | 2019-11-06 |
公开(公告)号: | CN110797271A | 公开(公告)日: | 2020-02-14 |
发明(设计)人: | 周思远;尤贵;魏露露;黄冬冬;李慧 | 申请(专利权)人: | 扬州万方电子技术有限责任公司 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60 |
代理公司: | 11212 北京轻创知识产权代理有限公司 | 代理人: | 黄启兵 |
地址: | 225000 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 植球 锡膏 自动点胶机 返修 焊盘 热风枪 生产效率 自动点胶 储胶仓 点胶机 烘干 点涂 加热 热融 冷却 清洗 轨道 | ||
本发明公开了BGA芯片返修技术领域内的一种BGA芯片快速植球方法。该种BGA芯片快速植球方法包括自动点胶机和热风枪,所述点胶机内的储胶仓内装有锡膏,还包括下述步骤:1,计算BGA芯片焊盘上所需所用型号锡膏的体积值;2,将BGA芯片置于自动点胶机轨道,在自动点胶机上设置程序,然后操作自动点胶机将定量体积的锡膏点涂在BGA芯片焊盘上;3,热风枪加热BGA芯片焊盘上的锡膏,将BGA焊盘上锡膏热融成球状;4,冷却后进行清洗及烘干。该种BGA芯片快速植球方法简化了BGA植球返修工序,提高了生产效率,而且满足不同BGA芯片对植球尺寸的需求,降低了植球返修成本。
技术领域
本发明涉及BGA芯片返修技术领域,特别涉及一种BGA芯片快速植球方法。
背景技术
随着人们对电子产品小型化、多功能、可靠性的要求越来越高,芯片体积越来越小,芯片引脚越来越多,BGA(Ball Grid Array球栅阵列封装器件)形式的表面贴装器件的使用也越来越多。由于芯片引脚不是分布在芯片的周围而是在封装的底面,实际是将封装外壳基板原四面引出的引脚变成以面阵布局的Pb/Sn凸球引脚,这就可以容纳更多的I/O数,由于BGA器件造价高,舍弃不用浪费很大,因此怎样对性能依然良好,仅球阵被破坏的BGA进行修复,从而能够再次使用,就成了一个值得关注的问题。
为了解决上述问题,现有技术中公开了一种实用新型,专利名称为:一种芯片返修批量植球夹具,申请号为:201620644478.2。尽管现有技术用自动化批量植球的方式提高了植球的效率和成功率、降低了植球的成本,但针对少量BGA芯片而言,操作依然复杂,效率较低。
发明内容
本发明的目的是提供一种效率高且成本低的BGA芯片快速植球方法。
为了实现上述发明目的,本发明一种BGA芯片快速植球方法采用的如下技术方案:
一种BGA芯片快速植球方法,包括自动点胶机和热风枪,所述点胶机内的储胶仓内装有锡膏,还包括下述步骤:
S1:根据BGA芯片原锡珠的半径计算BGA芯片球珠的具体体积,再依据所用型号锡膏的金属含量的体积占比,得到BGA芯片焊盘上所需所用型号锡膏的体积值,所需锡膏量V=(4/3)πr锡珠3/θ;其中θ:所用型号锡膏的金属含量的体积占比;
S2:将BGA芯片置于自动点胶机轨道,在自动点胶机上设置对应BGA芯片上焊盘阵列图形、点涂定量体积锡膏的程序,然后操作自动点胶机将定量体积的锡膏点涂在BGA芯片焊盘上;
S3:采用热风枪加热BGA芯片焊盘上的锡膏,将BGA焊盘上锡膏热融成球状;
S4:待BGA芯片冷却至室温后进行清洗及烘干。该方法简化了BGA芯片植球操作过程,因采用了自动点胶机并利用点胶程序控制锡膏体积和阵列图形,无需制作专用的网板,无需准备各种直径的成品锡球,节省了成本,并大幅提高了植球修复的效率;进一步,根据BGA芯片锡珠所需体积点涂锡膏,由锡膏所形成的植球高度与原器件基本一致,实现不同BGA芯片的锡珠高度,通用性强。
进一步地,所述步骤S2之前需要去除BGA芯片焊盘表面的氧化层和污染物。
进一步地,所述步骤S2中,将BGA芯片固定安装于载板上,然后再将所述载板置于所述自动点胶机轨道。通过载板将BGA芯片定位并固定于自动点胶机轨道。
进一步地,所述载板包括底座,所述底座设置有与所述自动点胶机轨道配合的安装孔,所述底座上设置有放置BGA芯片的平台,所述平台四周设置有夹具。
进一步地,所述步骤S3之前需要检查每个BGA焊盘上的锡膏,查看有无缺锡膏或桥连。
进一步地,所述步骤S4之后需要进一步检查植球完成后的质量。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造