[发明专利]显示面板及其制备方法有效
申请号: | 201910549529.1 | 申请日: | 2019-06-24 |
公开(公告)号: | CN110233171B | 公开(公告)日: | 2022-02-01 |
发明(设计)人: | 张星;全威;林奕呈;徐攀;王玲;韩影;王国英 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/32 | 分类号: | H01L27/32;H01L51/56 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 柴亮;张天舒 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示 面板 及其 制备 方法 | ||
1.一种显示面板的制备方法,其特征在于,包括:
形成发光组件、彩膜组件;
所述彩膜组件,包括多个色阻块,所述色阻块用于使所述发光组件发射的光经过其后射出,并将所述光过滤形成单色光;
任意所述色阻块的形貌满足:经过其以预定视角范围内的任意视角射出的单色光的色坐标与以预定参考视角射出的单色光的色坐标之间的偏差不大于预定阈值;所述预定参考视角为0°视角;所述预定视角范围为0°至60°视角;
在形成所述彩膜组件之前,还包括:设定所述色阻块的形貌;
所述设定所述色阻块的形貌包括:
制备包括所述发光组件和测试色阻块的测试面板,使所述发光组件发光;其中,所述测试色阻块包括测试参考部分和多个测试部分,所述测试参考部分用于射出测试参考视角的单色光,任意所述测试部分用于射出预定视角范围内的与其对应的测试视角的单色光;
确定所述测试参考部分射出的单色光的测试参考色坐标,以及各所述测试部分射出的单色光的色坐标;
分别判断各所述测试部分射出的单色光的色坐标与所述测试参考色坐标之间的偏差是否大于预定阈值,
若不大于,则设定所述色阻块上与该测试部分对应的部分的厚度等于该测试部分的厚度;
若大于,则设定所述色阻块上与该测试部分对应的部分的目标色坐标,根据所述目标色坐标,计算所述色阻块上与该测试部分对应的部分的厚度;
其中,所述目标色坐标与所述测试参考色坐标的偏差不大于所述预定阈值,所述色阻块上与该测试部分对应的部分用于射出的单色光的视角与该测试部分对应的测试视角相同。
2.根据权利要求1所述的显示面板的制备方法,其特征在于,所述确定所述测试参考部分射出的单色光的测试参考色坐标,以及各所述测试部分射出的单色光的色坐标,包括:
采集所述发光组件发射的光在各所述测试视角的光谱;
采集所述测试参考部分的光谱;
基于三刺激函数,使用所述发光组件发射的光在任意所述测试视角下的光谱和所述测试参考部分的光谱,计算该测试视角的单色光的测试参考色坐标。
3.根据权利要求1所述的显示面板的制备方法,其特征在于,根据所述目标色坐标,计算所述色阻块上与该测试部分对应的部分的厚度,包括:
基于三刺激函数,使用所述色阻块上与测试部分对应的部分的所述目标色坐标,计算所述色阻块上与测试部分对应的部分的目标光谱;
根据所述目标光谱,计算所述色阻块上与测试部分对应的部分的目标透过率;
根据所述目标透过率,计算所述色阻块上与测试部分对应的部分的厚度。
4.根据权利要求1所述的显示面板的制备方法,其特征在于,形成所述彩膜组件,包括:
在第一基底上形成平坦化层;
在所述平坦化层上形成多个凹槽,所述凹槽对应预定形成所述色阻块的位置,且所述凹槽的形貌与预定形成的所述色阻块的形貌相同;
分别在各所述凹槽内形成所述色阻块。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的