[发明专利]一种基于图像识别技术与统计理论的纳米银烧结体内部孔隙尺寸及空间分布的表征方法在审
申请号: | 201910322135.2 | 申请日: | 2019-04-22 |
公开(公告)号: | CN110046589A | 公开(公告)日: | 2019-07-23 |
发明(设计)人: | 王自力;孙仲超;钱诚;孙博;任羿;冯强;杨德真 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | G06K9/00 | 分类号: | G06K9/00;G06T7/62 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100191*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 空间分布 纳米银 图像识别技术 烧结 烧结体 体内部 功率半导体器件封装 笛卡尔坐标系 统计分布函数 归一化处理 统计 表征参数 分布规律 分布趋势 孔隙参数 烧结区域 随机分布 图像处理 孔隙率 二维 引入 | ||
1.一种基于图像识别技术与统计理论的纳米银烧结体内部孔隙尺寸及空间分布的表征方法,其特征在于它包含以下步骤:
第一步:建立了基于烧结区域的孔隙表征二维笛卡尔坐标系;
第二步:建立了孔隙识别图像处理方法与识别流程;
第三步:分别提取孔隙及烧结银的面积,计算纳米银烧结体的孔隙率;
第四步:基于第一步中建立的坐标系,建立纳米银烧结体随机分布孔隙的参数表征体系,依次提取每个孔隙的表征参数(包括l、r和α)取值,并对参数l进行归一化处理;
第五步:统计第四步中提取得到的各表征参数数值分布的情况,进一步引入统计分布函数F表征上述各表征参数的分布趋势,完成纳米银烧结体随机分布孔隙的表征;
本发明通过以上步骤,给出了应用于纳米银烧结体内部孔隙尺寸及空间分布的表征方法。
2.如权利要求1所述的一种应用于纳米银烧结体内部孔隙尺寸及空间分布的表征方法,其特征在于:在第二步中建立了孔隙识别图像处理方法与识别流程,具体流程为:
(1)将由扫描电镜、金相显微镜等设备获取的孔隙分布图像转换为灰度图像,并进行滤波去除图像噪声;
(2)统计图像中像素颜色分布,绘制颜色分布直方图,利用正态分布对颜色分布进行拟合,确定μ-3σ位置对应的像素颜色为图像二值化操作阈值,将图像转为黑-白二值图,其中白色区域为烧结银,黑色区域为孔隙;
(3)识别图像中黑色区域轮廓,计算轮廓面积,以轮廓形心为圆心,绘制与轮廓面积一致的圆形等效孔隙。
3.如权利要求1所述的一种应用于纳米银烧结体内部孔隙尺寸及空间分布的表征方法,其特征在于:在第四步中建立描述孔隙尺寸及空间分布的量化参数体系,其中包括孔隙半径参数r、孔隙距离参数l、孔隙角度参数α。
4.如权利要求1所述的一种应用于纳米银烧结体中内部孔隙尺寸及空间分布的表征方法,其特征在于:在第四步中提出了孔隙距离参数l的归一化方法。
5.如权利要求1所述的一种应用于纳米银烧结体中内部孔隙尺寸及空间分布的表征方法,其特征在于:在第五步中统计第四步中提取得到的各表征参数数值分布的情况,进一步引入统计分布函数F表征上述各表征参数的分布趋势,进而描述纳米银烧结体内部孔隙尺寸及空间随机分布特征。所采用的分布函数包括,但不局限于,均匀分布、指数分布、正态分布、泊松分布、威布尔分布等。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京航空航天大学,未经北京航空航天大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910322135.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。