[发明专利]对电子电路内的扫描触发器进行分组和排序的系统和方法

权利要求书

1.一种用于对电子设备的电子电路内的多个扫描触发器进行分组和排序的计算机系统，所述计算机系统包括：

存储器，存储一个或多个指令；以及

处理器，被配置为执行所述一个或多个指令，所述一个或多个指令在由所述处理器执行时配置所述处理器以使得：

基于所述多个扫描触发器的第一聚类分析将所述多个扫描触发器分组为具有第一数量的扫描链的第一多个扫描链，并且基于所述多个扫描触发器的第二聚类分析将所述多个扫描触发器分组为具有第二数量的扫描链的第二多个扫描链；

确定第一一致性系数，与来自所述第一多个扫描链中的其他扫描链的扫描触发器相比，所述第一一致性系数表示第一多个扫描链中的每个扫描链内的扫描触发器之间的类似性度量，并且确定第二一致性系数，与来自所述第二多个扫描链中的其他扫描链的扫描触发器相比，所述第二一致性系数表示第二多个扫描链中的每个扫描链内的扫描触发器之间的类似性度量；

当所述第一一致性系数大于所述第二一致性系数时选择所述第一数量作为所述电子电路的扫描链的最佳数量，或者，当所述第二一致性系数大于所述第一一致性系数时选择所述第二数量作为所述电子电路的扫描链的最佳数量；

基于所述多个扫描触发器的基于质心的聚类，将所述多个扫描触发器分组为所述最佳数量的扫描链；和

基于所述最佳数量的扫描链中的每个扫描链内的扫描触发器的布线分析确定所述多个扫描触发器的多个布线排序。

2.根据权利要求1所述的计算机系统，其中，所述一个或多个指令在由所述处理器执行时进一步配置所述处理器以从所述电子电路的电子架构设计放置或所述电子电路的电子架构设计布局中提取所述多个扫描触发器的多个位置。

3.根据权利要求1所述的计算机系统，其中，所述第一聚类分析配置为对所述多个扫描触发器进行分组，使得：当与所述第一多个扫描链中的其他扫描链内的扫描触发器的特征、参数或属性进行比较时，所述第一多个扫描链中的每个扫描链内的扫描触发器共享类似的特征、参数或属性。

4.根据权利要求3所述的计算机系统，其中，所述特征、参数或属性包括：

所述第一多个扫描链内的所述多个扫描触发器之间的多个距离；

所述第一多个扫描链内的所述多个扫描触发器的多个扫描触发器密度，或

所述第一多个扫描链内的所述多个扫描触发器的多个扫描触发器统计分布。

5.根据权利要求1所述的计算机系统，其中，所述一个或多个指令在由所述处理器执行时配置所述处理器以使得：

对所述多个扫描触发器之间的多个电连接的特征、参数或属性进行统计成本分析，以识别所述多个电连接中的非最佳电连接。

6.根据权利要求1所述的计算机系统，其中，所述聚类分析包括：

基于连接的聚类；

基于质心的聚类；

基于分布的聚类；或

基于密度的聚类。

7.根据权利要求1所述的计算机系统，其中，所述布线分析包括最短路径问题。

8.根据权利要求1所述的计算机系统，其中，所述布线分析被配置为布置所述最佳数量的扫描链中的每个扫描链内的扫描触发器的排序，以优化所述最佳数量的扫描链中的每个扫描链的一个或多个布线参数。

9.根据权利要求8所述的计算机系统，其中，所述一个或多个布线参数包括：

所述最佳数量的扫描链中的每个扫描链内的扫描触发器之间的线长。

10.根据权利要求1所述的计算机系统，其中，所述一个或多个指令在由所述处理器执行时进一步配置所述处理器以提供扫描聚类报告，其中，所述扫描聚类报告描述将所述多个扫描触发器分组为所述最佳数量的扫描链以及所述最佳数量的扫描链中的每个扫描链内的所述多个扫描触发器的布线排序。