[发明专利]一种SOT芯片图像快速校正与字符识别方法

说明书

本发明提供了一种SOT芯片图像快速校正与字符识别方法，包括以下步骤：(1)提取SOT芯片的目标区域；(2)采用Hough变换对SOT芯片目标区域进行旋转校正并去除白边；(3)对旋转后的图像进行滤波、二值化、数学形态学操作；(4)对处理后的图像进行字符分割，将分割后的图像作为识别模板；(5)采用归一化积相关算法(NCC算法)识别模板区域中的特征参数，从而快速准确地识别SOT芯片字符。本发明比传统算法速度更快、效率更高，可用于生产SOT芯片校正与字符识别环节，为芯片的倾斜校正、检测芯片外观缺陷提供了清晰准确地图像，耗时在毫秒级别。

技术领域

本发明专利属于图像处理算法设计领域，基于Hough变换与NCC算法，设计一种针对SOT芯片图像快速校正与字符识别的方法。

背景技术

SOT封装类型芯片外形简单，一般有3～6只引脚，生产量大，实时性要求较高。由于生产环境原因，生产出来的芯片会出现字符倾斜、字符模糊等各种缺陷，人工主观检测识别的方法已经远远满足不了芯片生产的要求，利用一种有效的技术快速、准确地对芯片表面字符进行识别是急需解决的问题。现如今企业在要求满足生产产量的同时，还需要提高芯片检测的质量。现有针对SOT芯片的研究，主要集中于SOT芯片结构及制造工艺，如申请号200910025767.9、201721294342.4、201820638187.1，以及针对SOT芯片外观检测201610747118.X与SOT引脚尺寸缺陷检测201410391570.8，而尚未查阅到与SOT芯片图像倾斜的快速校正以及字符识别相关的文献与专利，因此设计一种针对SOT芯片图像快速校正与字符识别的方法，填补这一方面研究的缺失，对于SOT芯片检测质量的提升显得尤为重要。

发明内容

1、本发明目的

本发明针对生产出来的SOT芯片会出现字符倾斜、字符模糊等各种缺陷，人工主观检测识别的方法已经远远满足不了SOT芯片生产的要求，本发明提出了一种SOT芯片图像快速校正与字符识别方法。

2、本发明所采用的技术方案

为解决上述问题，本发明基于Hough变换与NCC算法，提出了一种针对SOT芯片图像快速校正与字符识别的方法，包括以下步骤：

(1)提取SOT芯片的目标区域：

通过相机采集SOT芯片图像，人工选取芯片目标区域对角位置，将其两点的坐标值作为固定坐标点，提取SOT芯片的目标区域图像。

(2)采用Hough变换对SOT芯片目标区域进行旋转校正并去除白边，具体包括：

(2.1)对SOT芯片的目标区域图像进行边缘检测：

采用canny算子边缘检测，得到SOT芯片的目标边缘图像；

(2.1)基于Hough变换提取最大检测直线：

在SOT芯片目标边缘图像中通过Hough变换提取最长直线；

(2.2)旋转校正SOT芯片的目标区域图像：

提取后的SOT芯片的目标区域图像不一定是正的，存在偏差角度，为了计算目标区域图像的偏差角度，基于Hough变化提取图像中的最大检测直线来进行旋转校正，并将旋转校正后的目标区域存在的白边进行去除；

(3)对旋转校正后的SOT芯片区域图像进行处理，具体包括：

(3.1)图像滤波：

把数字图像或数字序列中一点的值用该点的一个邻域中各点值的中值代替，让周围的像素值接近的真实值。为消除噪声点，同时保持字符清晰，采用3×3中值滤波算法，计算公式如下：

g(x,y)＝med{f(x-k,y-l),(k,l∈W)}