[发明专利]一种SOT芯片图像快速校正与字符识别方法

权利要求书

1.一种SOT芯片图像快速校正与字符识别方法，其特征在于包括以下步骤：

(1)提取SOT芯片的目标区域：

通过相机采集SOT芯片图像，人工选取芯片目标区域对角位置，将其两点的坐标值作为后续处理的固定坐标点，提取SOT芯片的目标区域图像。

(2)采用Hough变换对SOT芯片目标区域进行旋转校正并去除白边，具体包括：

(2.1)对SOT芯片的目标区域图像进行边缘检测：

采用canny算子边缘检测，得到SOT芯片的目标边缘图像；

(2.1)基于Hough变换提取最大检测直线：

在SOT芯片目标边缘图像中通过Hough变换提取最长直线；

(2.2)旋转校正SOT芯片的目标区域图像：

提取后的SOT芯片的目标区域图像不一定是正的，存在偏差角度，为了计算目标区域图像的偏差角度，基于Hough变化提取图像中的最大检测直线来进行旋转校正，并将旋转校正后的目标区域存在的白边进行去除；

(3)对旋转校正后的SOT芯片区域图像进行处理，具体包括：

(3.1)图像滤波：

把数字图像或数字序列中一点的值用该点的一个邻域中各点值的中值代替，让周围的像素值接近的真实值；为消除噪声点，同时保持字符清晰，采用3×3中值滤波算法，计算公式如下：

g(x,y)＝med{f(x-k,y-l),(k,l∈W)}

其中f(x,y)与g(x,y)分别为原始图像和处理后图像，W为二维模板；

(3.2)图像二值化分割：

采用固定阈值法对图像进行二值化处理，计算公式如下：

其中固定阈值T＝46；

(3.3)数学形态学操作：

经过处理之后的二值图像通常还会存在多余的区域，因此先进行野值剔除；为了填充图像内部空洞，并达到平滑图像边缘的效果，使用闭运算处理图像，计算公式如下：

其中A为输入图像，B为结构元素；与AΘB分别表示B膨胀A与B腐蚀A，(x,y)表示图像像元位置；

(4)对处理后的SOT芯片区域图像进行字符分割：

选用运算速度较快的直接分割法对字符进行分割，将分割后的图像作为识别模板；

(5)基于NCC算法对模板区域的特征字符进行识别：

由于NCC算法匹配的时间较短，所以将采用模板匹配算法中的NCC算法对模板区域的特征字符进行识别。

2.如权利要求1所述的一种SOT芯片图像快速校正与字符识别方法，其特征在于，在所述步骤(2.1)中，所述直线的方程为：

ρ＝xcosθ+ysinθ

其中ρ代表直线到原点的垂直距离，θ代表x轴到直线垂线的角度，取值范围为±90°。

3.如权利要求1所述的一种SOT芯片图像快速校正与字符识别方法，其特征在于，在所述步骤(2.2)中，所述SOT芯片目标区域图像倾斜角度α由以下计算公式可求出：

l²＝(L_max-x)²+x²

依据目标区域图像在水平方向的偏移距离x，取其较小值，求得：

目标区域图像倾斜角度α计算公式可得：

其中，L_max为用于放置参数区域图像的承载口的最大尺寸，l为参数区域图像尺寸，x为参数区域图像在水平方向的偏移距离。

4.如权利要求1所述的一种SOT芯片图像快速校正与字符识别方法，其特征在于，在所述步骤(5)中，所述NCC算法计算公式如下：

其中S^i，j(s，t)为基准图像，大小为m×n，T(s，t)为实时图像，大小为M×N；E(S^i，j)表示基准图像的灰度均值，E(T)表示实时图像的灰度均值。