[发明专利]半导体集成电路

说明书

本发明涉及半导体集成电路，并且更具体地涉及这样的电路：其中，一个或多个相似或相同的操作单元均可操作成根据参考信号执行操作。这种操作单元的一个示例是模数转换器(ADC)电路的子ADC单元，该ADC电路采用一个或更多个这样的子ADC单元以将输入的模拟信号的样本转换为代表性数字值。在存在多个子ADC单元的情况下，多个子ADC单元均可以将输入的模拟信号的样本转换为代表性数字值。多个子ADC单元还可以以时间交错方式操作，使得其(从样本至数字值的)转换率可以比整体采样率低了子ADC单元的数目的系数。

技术领域

本发明涉及半导体集成电路，并且更具体地涉及一个或多个相似或相同的操作单元均可操作以根据参考信号执行操作的电路。

背景技术

这种操作单元的一个示例是模数转换器(ADC)电路的子ADC单元，该ADC电路采用一个或更多个这样的子ADC单元以将输入的模拟信号的样本转换为代表性数字值。在存在多个子ADC单元的情况下，多个子ADC单元均可以将输入的模拟信号的样本转换为代表性数字值。多个子ADC单元还可以以时间交错的方式来操作，使得其(从样本至数字值的)转换率可以比整体采样率低了子ADC单元的数目的系数。

当然，其他类型的操作单元也根据参考信号执行操作，然而为了方便，将ADC电路的子ADC单元的示例作为运行实例。

应了解的是，子ADC单元(每个都是ADC本身)通常需要参考信号(例如，电压或电流)，将模拟输入值与该参考信号进行比较以生成代表性数字值。例如，在SAR(逐次逼近式寄存器)的ADC的情况下，从模拟样本至代表性数字值的每个转换包括一系列子转换操作。在每个子转换操作中，与参考信号一起处理样本(使用由参考信号表示的参考值的全部或小数部分)，以有效地评估与参考信号相比的样本的幅值，以最终地达到多位数字值。

发明内容

该参考信号的质量直接影响转换器性能，并且因此参考信号的噪声能不利地影响ADC数字输出值并且因此影响整体ADC性能。

期望改善这种电路的性能。

根据本发明的第一方面的实施方式，提供了一种半导体集成电路，该半导体集成电路包括：多个操作单元，其均包括局部调节电路、局部参考节点和操作电路，并且每个操作单元可操作成根据在其局部参考节点提供的参考信号执行操作；以及参考调节电路，其包括局部调节电路并且被连接成在局部参考节点处提供相应的参考信号，其中，对于每个操作单元，局部调节电路具有被连接以从参考调节电路接收控制信号的输入端子并且被配置成基于所接收的控制信号来调节在局部参考节点处的参考信号；局部调节电路的输入端子具有高输入阻抗，使得通过输入端子从参考调节电路汲取相对低的电流量；并且局部调节电路被配置成从电压源汲取相对高的电流量，并且在局部参考节点处将该电流提供至相关的操作电路。

因此，通过操作单元的操作电路在参考信号上汲取的电流中的至少一些不需要沿远距离引导。这通常导致较低的IR降低，以及操作单元之间的与IR降低更好地匹配，并且因此导致更好的噪声性能。与在参考信号上汲取电流相比，从电源(在每个操作单元中)局部地汲取电流是有利的。在此，电压源(例如，电源)提供电源电压，该电压源当然与提供参考电压的参考源不同。

每个局部参考节点可以被认为是局部参考网格。类似地，每个全局参考节点可以被认为是全局参考网格。在半导体集成电路的情况下，高输入阻抗将被理解为例如相当于MOSFET的栅极端子的输入阻抗。通过输入端子汲取非常低的电流或者基本上不汲取电流。