[发明专利]用于测量物体的各种性质的系统和方法在审
| 申请号： | 201880063323.1 | 申请日： | 2018-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN111164378A | 公开（公告）日： | 2020-05-15 |
| 发明（设计）人： | D·迪米特 | 申请（专利权）人： | 海克斯康测量技术有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/04 | 分类号： | G01B21/04;G01B11/00;G01B7/008;G01B5/008;G01N29/265 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 王小东;黄纶伟 |
| 地址： | 美国罗*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 测量 物体 各种 性质 系统 方法 | ||
1.一种测量物体的各种性质的方法，所述方法包括：
将第一测量装置安装到关节臂坐标测量机的端部；
使用安装到所述关节臂坐标测量机的所述端部的所述第一测量装置来测量物体的表面的三维坐标；
将第二测量装置安装到所述关节臂坐标测量机的所述端部；
在已经测量了所述三维坐标之后，使用安装到所述关节臂坐标测量机的所述端部的所述第二测量装置来测量所述物体的第二性质。
2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述第一测量装置是非接触式坐标检测装置。
3.根据权利要求2所述的方法，其中，所述第一测量装置是激光扫描仪。
4.根据权利要求2所述的方法，其中，所述第一测量装置是结构光扫描仪。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其中，所述第二测量装置运动学地安装到所述关节臂CMM。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的方法，其中，所述第二性质是所述物体的非几何性质。
7.根据权利要求1至6中任一项所述的方法，其中，所述第二性质不是能够由标准相机检测的性质。
8.根据权利要求1至7中任一项所述的方法，其中，所述第二性质不是所述物体的所述表面的几何性质。
9.根据权利要求1至8中任一项所述的方法，其中，所述第二测量装置是超声扫描仪。
10.根据权利要求1至8中任一项所述的方法，其中，所述第二测量装置是涡流传感器。
11.根据权利要求1至10中任一项所述的方法，其中，所述第二测量装置被构造成检测所述物体的表面下方的空隙或裂纹。
12.根据权利要求1至8中任一项所述的方法，其中，所述第二测量装置是光谱或超光谱成像仪。
13.根据权利要求1至8中任一项所述的方法，其中，所述第二测量装置是粗糙度传感器。
14.根据权利要求1至8中任一项所述的方法，其中，所述第二测量装置是硬度传感器。
15.根据权利要求1至14中任一项所述的方法，所述方法还包括在测量所述第二性质之前使用至少所测量的三维坐标来生成所述物体的模型的步骤。
16.根据权利要求15所述的方法，所述方法还包括向用户显示所述物体的尚未针对其测量所述第二性质的部分。
17.根据权利要求15至16中任一项所述的方法，所述方法还包括向用户显示所述物体的用以利用所述第二测量装置进行测量的建议部分。
18.根据权利要求15至17中任一项所述的方法，所述方法还包括向用户显示所述关节臂坐标测量机的建议位置，用以在尚未测量所述第二性质的区域中测量所述物体。
19.根据权利要求15至18中任一项所述的方法，所述方法还包括向用户显示所述物体的已经针对其测量了所述第二性质的部分。
20.根据权利要求15至19中任一项所述的方法，所述方法还包括向用户指示何时已经利用所述第二测量装置测量了所述物体的期望部分的全部。
21.根据权利要求1至20中任一项所述的方法，其中，所述第二测量装置被构造成在二维区域上生成多个数据。
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