[实用新型]薄膜沉积均匀进气装置有效

专利信息
申请号: 201822144002.4 申请日: 2018-12-20
公开(公告)号: CN209702845U 公开(公告)日: 2019-11-29
发明(设计)人: 周云;睢智峰;张德培 申请(专利权)人: 上海陛通半导体能源科技股份有限公司
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201203 上海市浦东新区中国(上海)自*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 进气装置 进气座 气环 晶圆表面 靶材 本实用新型 薄膜沉积 沉积薄膜 反应气体 均匀反应 装置结构 半圆环 反应腔 加热盘 均匀性 圆环状 方阻 晶圆 两相 沉积
【说明书】:

一种薄膜沉积均匀进气装置,放置在靶材和晶圆加热盘之间,固定在靶材下方。本实用新型设计的进气装置包括气环和进气座。所述的气环由两个半圆环组成,所述的进气座有两个;气环与进气座相连,两两相固定,构成圆环状。通过增加进气装置,使反应气体均匀进入反应腔,从而在晶圆表面均匀反应和沉积,改善晶圆表面沉积薄膜的厚度和方阻的均匀性。本装置结构简单、易于安装。

技术领域

本实用新型涉及半导体制造装置技术领域,尤其涉及一种薄膜沉积均匀进气装置。

背景技术

物理气相沉积工艺是半导体制造的关键步骤之一,此步骤工艺对沉积薄膜的阻值均匀性、膜厚均匀性等参数要求较高,如何获得高质量的薄膜材料对半导体制造下一环节十分重要。目前,传统的物理气相沉积工艺,尤其是金属氮化物和氧化物薄膜沉积工艺,所使用的反应气体在腔体内存在分布不均匀的问题,从而导致薄膜厚度和方阻的均匀性不佳;

本实用新型是在常规的物理气相沉积反应腔内部,加入均匀进气装置,优化薄膜的厚度和方阻的均匀性。本装置结构简单、易于安装。

发明内容

为了解决薄膜厚度和方阻的均匀性不佳的技术问题,本实用新型的技术方案为:

一种薄膜沉积均匀进气装置,应用于物理气相沉积腔体,所述沉积腔体内使用永磁装置通过直流、交流或脉冲直流磁控溅射,将金属氮化物或金属氧化物薄膜沉积到晶圆表面;其中,所述的磁控溅射装置包括永磁装置、靶材和溅射动力源(可以是直流、交流或脉冲直流电源);

所述薄膜沉积均匀进气装置包括气环和进气座;

所述气环呈半圆环状,所述的进气座有两个;气环与进气座相连,两两相固定,构成圆环状。所述进气装置放置在靶材和晶圆加热盘之间,固定在靶材下方;

所述气体均匀进气装置,通过设计环形进气口装置,使的反应气体均匀进入反应腔,从而在晶圆表面均匀反应和沉积,改善晶圆表面沉积薄膜的厚度和方阻的均匀性;

所述的气环采用不锈钢材料,外表面做喷砂处理,内表面做抛光处理;采用不锈钢材料可起到较好空气密封作用,圆环表面做喷砂处理,提高附着力,使得沉积材料可以牢固的附在其表面,避免出现颗粒问题。所述气环内壁开多个小孔,用做出气口;

所述进气座采用不锈钢材料,正面开三个圆形孔洞,两边为螺纹固定孔,中间为进气孔;所述进气座内部开两个进气槽,连接进气孔和气环固定口;

综上所述,本实用新型一种薄膜沉积均匀进气装置,是内置在反应腔中的分散型进气装置,设备结构简单、易于安装。

附图说明

图1为本实用新型安装位置示意图;

图2为本实用新型总体结构示意图;

图3为本实用新型气环结构示意图;

图4为本实用新型进气座结构示意图;

图5为本实用新型进气座剖面图;

图6为本实用新型气环与进气座安装图;

1.气环;2.进气座;3.靶材;4.进气装置;5.腔体;6.晶圆加热盘。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型做进一步说明;

如图1所示,进气装置4安装在靶材3和晶圆加热盘6之间,固定在靶材3下方。如图2所示,一种薄膜沉积均匀进气装置,包括气环1和进气座2。所述的气环1呈半圆形,所述的进气座2有两个;气环1与进气座2相连,两两相固定,构成圆环状;

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