[实用新型]电池片暗裂检测装置有效
| 申请号: | 201821987000.5 | 申请日: | 2018-11-29 |
| 公开(公告)号: | CN209119046U | 公开(公告)日: | 2019-07-16 |
| 发明(设计)人: | 钱海龙;费正洪 | 申请(专利权)人: | 盐城阿特斯协鑫阳光电力科技有限公司;阿特斯阳光电力集团有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66;H01L21/67 |
| 代理公司: | 苏州携智汇佳专利代理事务所(普通合伙) 32278 | 代理人: | 钱伟 |
| 地址: | 224431 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 电池片 检测装置 滚轮 本实用新型 测试机构 传输组件 检测组件 收容构件 输送机构 基板 检测 电池片碎片 传输效率 位置可调 收纳 碎裂 抵压 破裂 保证 | ||
本实用新型提供了一种电池片暗裂检测装置。所述电池片暗裂检测装置包括传输组件和检测组件,所述传输组件包括用于输送电池片的输送机构和设置在所述输送机构下方的收容构件,所述收容构件用于收纳破裂的电池片碎片;所述检测组件包括基板和连接在基板上的测试机构,所述测试机构包括滚轮,所述滚轮贴近所述电池片设置,且所述滚轮与所述电池片之间的相对位置可调,以使得所述滚轮抵压所述电池片,对所述电池片进行暗裂检测。本实用新型的电池片暗裂检测装置,可快速高效的对电池片进行暗裂检测,同时可及时将检测后碎裂的电池片进行收集,以保证电池片的传输效率。
技术领域
本实用新型涉及一种电池片暗裂检测装置,属于光伏电池检测技术领域。
背景技术
电池片是光伏组件的核心结构,电池片的好坏将直接影响光伏组件的性能。然而,在光伏组件的实际生产过程中,受到电池片生产工艺和流程的影响,电池片在生产制造过程中易产生暗裂,继而影响电池片生产过程中网版的使用寿命,致使电池片生产过程中丝网印刷的效率降低,同时造成印刷浆料的浪费。
为解决上述问题,现有技术中通常采用人工测试的方式对电池片进行暗裂的检测。然而,在采用人工测试的方式对电池片进行暗裂检测时,测试人员的手部将直接接触电池片,继而污染电池片,造成降级片的产生;同时,人工测试电池片的暗裂情况,由于测试过程中按压的强度和位置均不固定,致使无法及时准确的检测出存在暗裂的电池片,进一步的,存在暗裂的电池片将在人工测试过程中发生断裂,断裂的电池片一方面容易对测试人员造成伤害;另一方面,断裂后的电池片回收困难,将影响电池片的传输继而导致电池片/光伏组件生产效率的降低。
有鉴于此,确有必要提供一种新的电池片暗裂检测装置,以解决上述问题。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种电池片暗裂检测装置,以快速高效的对电池片暗裂情况进行检测,同时,可及时将检测后碎裂的电池片进行收集,以保证电池片的传输和生产效率。
为实现上述实用新型目的,本实用新型提供了一种电池片暗裂检测装置。所述电池片暗裂检测装置包括传输组件和检测组件,所述传输组件包括用于输送电池片的输送机构和设置在所述输送机构下方的收容构件,所述收容构件用于收纳破裂的电池片碎片;所述检测组件包括基板和连接在基板上的测试机构,所述测试机构包括滚轮,所述滚轮贴近所述电池片设置,且所述滚轮与所述电池片之间的相对位置可调,以使得所述滚轮抵压所述电池片,对所述电池片进行暗裂检测。
作为本实用新型的进一步改进,所述测试机构还包括用于连接所述基板和所述滚轮的伸缩部,所述伸缩部的伸缩距离可调;所述滚轮设置在所述伸缩部远离所述基板的一端,且所述滚轮的转动方向与所述电池片的输送方向一致。
作为本实用新型的进一步改进,所述测试机构设有多个,且任意两个相邻设置的所述测试机构之间的间距相等。
作为本实用新型的进一步改进,所述传输组件还包括用于限定电池片输送方向的限位机构,所述限位机构包括平行设置的第一限位板和第二限位板,所述第一限位板和第二限位板之间形成一个供收容电池片的容置空间,且所述容置空间与所述收容构件连通设置。
作为本实用新型的进一步改进,所述限位机构还包括设置在所述第一限位板上的第一限位辊和设置在所述第二限位板上的第二限位辊;所述第一限位辊与所述第二限位辊相对设置,且所述第一限位辊和第二限位辊的转动方向相反,以带动所述电池片沿输送方向移动。
作为本实用新型的进一步改进,所述第一限位辊和第二限位辊的轴向垂直于电池片所在平面,且所述第一限位辊和第二限位辊分别与所述电池片的靠近所述第一限位板和第二限位板的两侧边接触,以限定所述电池片沿输送方向移动。
作为本实用新型的进一步改进,所述第一限位辊和第二限位辊与所述电池片接触位置处运动的切线方向与电池片的输送方向一致。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





