[实用新型]一种强抗干扰单键触摸检测电路

说明书

本实用新型公开了一种强抗干扰单键触摸检测电路，包括主芯片，在主芯片内设有依次连接的振荡器、数字处理器模块和结果输出模块，所述振荡器连接有位于主芯片外部的芯片外部触摸点电容C1，所述振荡器还连接有位于主芯片内部的芯片内部参考电容C2；通过利用本实用新型来实现的抗干扰技术，引入芯片内部参考电容C2，用于检测内部噪声，先检测触摸点电容的变化值，再检测一个内部电容的变化值，用内部电容变化值补偿触摸点电容变化值，再判断是否为有效触摸；在实际产品应用中，完全抑制了电源电压波动噪声和温度变化噪声，改善了系统对噪声的敏感性，使得单键触摸检测技术应用到更多的领域。

技术领域

本实用新型涉及抗干扰技术领域，具体是一种强抗干扰单键触摸检测电路。

背景技术

当前单键触摸检测技术，主要应用于台灯、小家电、家装开关等领域，取代传统的机械开关。单键触摸检测的基本原理是系统检测触摸点的电容值大小，通过电容值变化判断是否触摸有效。

系统对触摸点进行电容值检测时，通常受到噪声干扰，影响检测结果。干扰噪声通常有电源电压波动噪声、温度变化噪声、以及外部噪声等。这些噪声的存在，极大的影响了触摸检测结果的准确性，限制了触摸技术的推广和应用。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种强抗干扰单键触摸检测电路，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种强抗干扰单键触摸检测电路，包括主芯片，在主芯片内设有依次连接的振荡器、数字处理器模块和结果输出模块，所述振荡器连接有位于主芯片外部的芯片外部触摸点电容C1，所述振荡器还连接有位于主芯片内部的芯片内部参考电容C2；所述外部触摸点电容C1和芯片内部参考电容C2另一端均连接接地线路；所述芯片内部参考电容C2的寄生电容值范围为1pF~30pF；所述振荡器型号为SG-8018，其频率输出范围在0.67MHz-170MHz。

作为本实用新型进一步的方案：所述主芯片内设置双振荡器，两个振荡器（可以是同一个）分别与数字处理器模块相连接，且外部触摸点电容C1和芯片内部参考电容C2分别连接不同的振荡器(也可以是相同的振荡器)。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：通过利用本发明来实现的抗干扰技术，引入芯片内部参考电容C2，用于检测内部噪声，使用时先检测触摸点电容的变化值，再检测一个内部电容的变化值，用内部电容变化值补偿触摸点电容变化值，再判断是否为有效触摸；在实际产品应用中，完全抑制了电源电压波动噪声和温度变化噪声，改善了系统对噪声的敏感性，使得单键触摸检测技术应用到更多的领域。

附图说明

图1为本实用新型的连接示意图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。