[实用新型]一种用于探针接触类测试设备的测试装置

权利要求书

1.一种用于探针接触类测试设备的测试装置，其特征在于，所述测试装置包括测试电路板(1)和绝缘层(12)；

所述测试电路板(1)包括多个测试点(11)，多个所述测试点(11)用于测试被测探针组(7)的接触性以及测试准确性；

所述绝缘层(12)设置于所述测试电路板(1)的表面，所述绝缘层(12)设置有与每个所述测试点(11)位置对应的开孔以裸露每个所述测试点(11)。

2.根据权利要求1所述的用于探针接触类测试设备的测试装置，其特征在于，所述测试电路板(1)包括至少一个测试电路，每个所述测试电路包括平行设置的第一电路(23)和第二电路(24)，所述第一电路(23)、所述第二电路(24)分别设置有多个与所述测试点(11)对应的连接点(21)，所述第一电路(23)、所述第二电路(24)上相邻的两个所述连接点(21)用于实现相邻两个探针的阻值准确性测试；所述第一电路(23)、所述第二电路(24)上位置对应的两个所述连接点(21)连接，用于实现探针对的接触性测试。

3.根据权利要求2所述的用于探针接触类测试设备的测试装置，其特征在于，位于所述第一电路(23)、所述第二电路(24)上位置对应的两个所述连接点(21)通过导线连接。

4.根据权利要求3所述的用于探针接触类测试设备的测试装置，其特征在于，所述第一电路(23)、所述第二电路(24)上相邻的两个所述连接点(21)通过导线连接。

5.根据权利要求3所述的用于探针接触类测试设备的测试装置，其特征在于，所述第一电路(23)、所述第二电路(24)上相邻的两个所述连接点(21)之间分别连接有单个标准电阻(22)。

6.根据权利要求5所述的用于探针接触类测试设备的测试装置，其特征在于，一个所述测试电路上的多个所述标准电阻(22)集成在一个标准电阻条上，所述标准电阻条通过定位扣固定在所述测试电路板上。

7.根据权利要求1所述的用于探针接触类测试设备的测试装置，其特征在于，所述开孔大于被测探针组(7)的探针头。

8.根据权利要求1所述的用于探针接触类测试设备的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括固定机构(3)以及移动机构(4)，所述固定机构(3)用于固定所述测试电路板(1)，所述固定机构(3)与所述移动机构(4)连接；所述移动机构(4)用于设置在测试机台(6)上且与所述测试机台(6)的控制器连接，所述移动机构(4)用于接收所述控制器的指令实现所述测试电路板(1)的移动。

9.根据权利要求8所述的用于探针接触类测试设备的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括旋转机构(5)，所述旋转机构(5)设置在所述固定机构(3)与所述移动机构(4)之间，用于在测试完成后将所述测试电路板(1)旋转至被测探针组(7)的侧面。