[实用新型]一种半导体晶片的清洗装置有效
申请号: | 201820886768.7 | 申请日: | 2018-06-08 |
公开(公告)号: | CN208298787U | 公开(公告)日: | 2018-12-28 |
发明(设计)人: | 康凯;刘景亮;陆前军;王子荣 | 申请(专利权)人: | 东莞市中图半导体科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L21/67 |
代理公司: | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人: | 罗晓林;杨桂洋 |
地址: | 523000 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 电解槽 回流管 阴极金属板 反应槽 半导体晶片 本实用新型 阳极 清洗装置 上端 溢流管 溢流孔 装接 硫酸 晶片表面 硫酸用量 循环利用 出口端 非硫酸 泵体 侧壁 底面 隔膜 清洁 排放 节约 延伸 环保 | ||
本实用新型公开了一种半导体晶片的清洗装置,所述装置包括电解槽和反应槽,电解槽内设有阴极金属板和阳极,阴极金属板外套装有隔膜,阳极的上端位于阴极金属板上端的下方,电解槽的底面装接有回流管,该回流管上设有泵体,回流管与反应槽连接,反应槽侧壁设有位于回流管上方溢流孔,该溢流孔装接有溢流管,溢流管的出口端延伸至电解槽上部。本实用新型实现硫酸的循环利用,可以很大程度上的减少硫酸的用量,既能更高效的实现晶片表面清洁的目的,又能有效的减少硫酸用量,还能减少非硫酸的排放,节约成本的同时还环保。
技术领域
本实用新型涉及一种半导体晶片的清洗装置。
背景技术
半导体晶片需要进行清洗工序,以篮宝石衬底为例说明,随着LED制程工艺的日渐成熟、生产成本的不断降低,其应用范围和市场规模也在与日俱增;但LED的外延材料GaN,由于其特殊的理化性质,无法直接进行合成,必须附着于特定的衬底材料进行生长。当下主流的LED衬底材料是单晶蓝宝石衬底,且外延层的生长对图形化蓝宝石表面洁净度存在很高的要求,且图形化过程对蓝宝石平片表面洁净度也存在很高要求,因此,对蓝宝石衬底在其图形化加工过程及外延生长前的表面洁净度的控制必不可少。
目前对蓝宝石衬底进行清洗的方式大都以湿法清洗为主,所用清洗配方主要是通过H2SO4溶液和H2O2溶液按比例配成SPM溶液。在高温(大于100℃)条件下,硫酸和双氧水会生成卡罗酸,具有很强的脱水性和氧化能力,能破坏有机物的碳氢键,将有机污染物氧化成CO2和H2O,达到去除有机物的目的,同时还可将部分金属氧化后溶于清洗液。
但此过程中会消耗溶液中的硫酸根离子(SO42-),且清洗液必须维持较高的温度,硫酸也必须维持在很高的浓度,随着清洗次数的增加,硫酸的浓度会逐渐降低,清洗液的氧化性也会随之降低,清洗能力也会下降;而为了维持清洗效果,需要定期更换清洗溶液,此过程会产生大量的废硫酸。对废弃硫酸的后续处理也会增加工业成本。
此类清洗液的本质是通过浓度控制以及加热等条件让H2SO4与H2O2反应生成氧化电位更高的氧化物,对圆晶表面的杂质进行氧化,达到清洁表面的目的。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题是提供一种半导体晶片的清洗装置,实现硫酸的循环利用,可以很大程度上的减少硫酸的用量,既能更高效的实现晶片表面清洁的目的,又能有效的减少硫酸用量,还能减少非硫酸的排放,节约成本的同时还环保。
为了解决上述技术问题,本实用新型采取以下技术方案:
一种半导体晶片的清洗装置,所述装置包括电解槽和反应槽,电解槽内设有阴极金属板和阳极,阴极金属板外套装有隔膜,阳极的上端位于阴极金属板上端的下方,电解槽的底面装接有回流管,该回流管上设有泵体,回流管与反应槽连接,反应槽侧壁设有位于回流管上方溢流孔,该溢流孔装接有溢流管,溢流管的出口端延伸至电解槽上部。
所述回流管与反应槽的底面连接并伸入反应槽中,反应槽内设有与回流管装接的分散管。
所述反应槽的侧壁设有紫外灯。
所述反应槽上还设有槽盖,该槽盖上设有紫外灯。
所述反应槽内或外壁还设有加热器。
所述溢流管的出口端延伸至电解槽的阴极金属板上端的区域。
所述溢流管的出口端还装接有液体分散管路。
所述电解槽内设有覆盖着回流管的过滤组件。
所述溢流管上设有泵。
所述阳极为渡金刚石阳极。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东莞市中图半导体科技有限公司,未经东莞市中图半导体科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201820886768.7/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:光刻胶涂布工艺中的晶圆清洗装置
- 下一篇:复合单晶薄膜
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造