[实用新型]一种半导体光电测试样品架

说明书

一种半导体光电测试样品架，它涉及半导体光电测试技术领域；它包含L型底座、凸台、U型支架、第一紧固螺丝、样品支架、装夹环、第二紧固螺丝、L型支架、第三紧固螺丝、光阑、锁紧螺栓；所述的L型底座上设置有凸台，凸台上通过第一紧固螺丝固定有U型支架，U型支架与样品支架固定连接，样品支架的一端一体连接有装夹环，装夹环上旋设有数个第二紧固螺丝；所述的装夹环的一侧设置有光阑，光阑通过L型支架与L型底座通过第三紧固螺丝固定连接；所述的L型底座的侧面与凸台通过锁紧螺栓固定。本实用新型所述的一种半导体光电测试样品架，能够满足测试样品的三维检测，便于装夹被测样品，保证检测质量。

技术领域

本实用新型涉及半导体光电测试技术领域，具体涉及一种半导体光电测试样品架。

背景技术

半导体的光电性质测试是半导体应用研究中的一个重要方面。器件的光电响应等性质可直接决定材料/器件质量的好坏和能否投入应用。

激光器之后到单色仪之前为外光路系统和试样装置，它的作用是为了要在试样上得到最有效的照射，最大限度地收集散射光，还要适合于作不同状态的试样在各种不同条件（如高、低温等）下的测试。

半导体激光器光电性质测试主要采用椭偏仪，在测试中需要使用样品架，现有的样品架难以满足测试样品的三维检测，不便于装夹被测样品。

实用新型内容

本实用新型的目的在于针对现有技术的缺陷和不足，提供一种结构简单、设计合理、使用方便的半导体光电测试样品架。

为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是：它包含L型底座、凸台、U型支架、第一紧固螺丝、样品支架、装夹环、第二紧固螺丝、L型支架、第三紧固螺丝、光阑、锁紧螺栓；所述的L型底座上设置有凸台，凸台上通过第一紧固螺丝固定有U型支架，U型支架与样品支架固定连接，样品支架的一端一体连接有装夹环，装夹环上旋设有数个第二紧固螺丝；所述的装夹环的一侧设置有光阑，光阑通过L型支架与L型底座通过第三紧固螺丝固定连接；所述的L型底座的侧面与凸台通过锁紧螺栓固定。

作为优选，所述的样品支架5的一端通过套环和螺丝与U型支架的一个支脚固定，U型支架的另一个支脚为环状结构，套设在样品支架上。

作为优选，所述的样品支架与套环之间通过角度调节器连接。

作为优选，所述的凸台上设置有限位螺丝。

作为优选，所述的第二紧固螺丝的端部固定有样品护垫。

本实用新型操作时，U型支架前后移动，通过第一紧固螺丝固定，可方便被测样品的前后移动调节，凸台左右移动，并通过锁紧螺栓固定，可方便被测样品的左右移动调节，转动角度调节器，可使样品支架转动，从而被测样品可转动，即可实现三维调节，光阑通过L型支架可左右调节，以方便被测样品的装夹，光阑位于被测样品的表面处，起限制其它杂散光的进入。

采用上述结构后，本实用新型产生的有益效果为：本实用新型所述的一种半导体光电测试样品架，能够满足测试样品的三维检测，便于装夹被测样品，保证检测质量，本实用新型具有结构简单、设置合理、制作成本低等优点。

附图说明

图1是本实用新型的结构图；

图2是图1中装夹环的侧视图。

附图标记说明：

L型底座1、凸台2、U型支架3、第一紧固螺丝4、样品支架5、装夹环6、第二紧固螺丝7、L型支架8、第三紧固螺丝9、光阑10、锁紧螺栓11、套环12、角度调节器13、限位螺丝14、样品护垫15、被测样品16。

具体实施方式