[发明专利]图像污点检测方法、装置、系统及存储介质

说明书

本申请提供了一种图像污点检测方法、装置、系统和存储介质。图像污点检测方法包括：从采集到的图像提取亮度图；通过对亮度图进行同态滤波来获取第一分割图；通过对亮度图进行曲面拟合来获取第二分割图；将第一分割图和第二分割图合并成最终分割图；以及基于最终分割图识别污点信息。本申请提供的方案可以实现高效准确的污点检测。

技术领域

本申请涉及测量测试领域，具体地，涉及图像污点检测方法、装置、系统及存储介质。

背景技术

在工业领域存在对屏幕显示的图像进行检测的需求。这种需求可能源自于多种目的。例如，在屏幕生成和组装工艺中可能存在一些不良因素，这些因素可能导致屏幕显示存在诸如污点的缺陷。再例如，摄像模组的瑕疵可能导致采集的图像本身存在缺陷。在这种情况下，通过屏幕显示的图像也会还原出这种缺陷，诸如各种深浅污点。因此，需要一种快速且稳定的图像污点检测方案。

发明内容

本申请提供了一种图像污点检测方案。

本申请的一方面提供了一种图像污点检测方法。图像污点检测方法包括：从采集到的图像提取亮度图；通过对亮度图进行同态滤波来获取第一分割图；通过对亮度图进行曲面拟合来获取第二分割图；将第一分割图和第二分割图合并成最终分割图；以及基于最终分割图识别污点信息。

根据本申请实施方式，从采集到的图像提取亮度图包括：从图像提取亮度分量图，亮度分量图与图像具有相同的尺寸；以及对亮度分量图降维以获取亮度图。

根据本申请实施方式，对亮度分量图降维以获取亮度图包括：生成空白图像；确定亮度分量图中的、与空白图像的每一像素点对应的映射位置；基于亮度分量图的像素值获取映射位置的图像数据；以及通过将图像数据赋值给空白图像来将空白图像转换成亮度图。

根据本申请实施方式，通过对亮度图进行同态滤波来获取第一分割图包括：将亮度图中每一像素的亮度值分解为照度分量和反射分量；对反射分量施加高通滤波以获取增强反射分量；将照度分量和增强反射分量进行组合以生成增强亮度图；以及对增强亮度图进行二值化以获取第一分割图。

根据本申请实施方式，通过对亮度图进行曲面拟合来获取第二分割图包括：通过对亮度图进行B样条(B-Spline)拟合来获取第二分割图。

根据本申请实施方式，通过对亮度图进行B样条拟合来获取第二分割图包括：在水平方向上选取第一数量的控制点进行第一B样条拟合；在竖直方向上选取第二数量的控制点进行第二B样条拟合；将通过第一B样条拟合和第二B样条拟合得到的亮度曲面图与亮度图作差以获取差分亮度图；以及对差分亮度图进行二值化以获取第二分割图。

根据本申请实施方式，将第一分割图和第二分割图合并成最终分割图包括：分别对第一分割图和第二分割图进行降噪；以及将降噪后的第一分割图和第二分割图组合以获取最终分割图。

根据本申请实施方式，基于最终分割图识别污点信息包括：通过行程法在最终分割图中识别污点区域的位置和尺寸。

本申请的另一方面提供了一种图像污点检测装置，其特征在于，图像污点检测装置包括：亮度提取器，从采集到的图像提取亮度图；第一图像分割器，通过对亮度图进行同态滤波来获取第一分割图；第二图像分割器，通过对亮度图进行曲面拟合来获取第二分割图；组合器，将第一分割图和第二分割图合并成最终分割图；以及识别器，基于最终分割图识别污点信息。

根据本申请实施方式，亮度提取器包括：亮度分量提取器，从图像提取亮度分量图，亮度分量图与图像具有相同的尺寸；以及降维器，对亮度分量图降维以获取亮度图。

根据本申请实施方式，降维器包括：生成器，生成空白图像；映射器，确定亮度分量图中的、与空白图像的每一像素点对应的映射位置；插值器，基于亮度分量图的像素值获取映射位置的图像数据；以及赋值器，通过将图像数据赋值给空白图像来将空白图像转换成亮度图。