[发明专利]图像污点检测方法、装置、系统及存储介质

权利要求书

1.一种图像污点检测方法，其特征在于，所述图像污点检测方法包括：

从采集到的图像提取亮度图；

通过对所述亮度图进行同态滤波和二值化来获取第一分割图；

通过对所述亮度图进行曲面拟合，并基于拟合后的亮度曲面与所述亮度图的差来获取二值化的第二分割图；

将所述第一分割图和所述第二分割图加权合并成最终分割图；以及

基于所述最终分割图识别污点信息。

2.根据权利要求1所述的图像污点检测方法，其特征在于，从采集到的图像提取亮度图包括：

从所述图像提取亮度分量图，所述亮度分量图与所述图像具有相同的尺寸；以及

对所述亮度分量图降维以获取所述亮度图。

3.根据权利要求2所述的图像污点检测方法，其特征在于，对所述亮度分量图降维以获取所述亮度图包括：

生成空白图像；

确定所述亮度分量图中的、与所述空白图像的每一像素点对应的映射位置；

基于所述亮度分量图的像素值获取所述映射位置的图像数据；以及

通过将所述图像数据赋值给所述空白图像来将所述空白图像转换成所述亮度图。

4.根据权利要求1所述的图像污点检测方法，其特征在于，通过对所述亮度图进行同态滤波和二值化来获取第一分割图包括：

将所述亮度图中每一像素的亮度值分解为照度分量和反射分量；

对所述反射分量施加高通滤波以获取增强反射分量；

将所述照度分量和所述增强反射分量进行组合以生成增强亮度图；以及

对所述增强亮度图进行所述二值化以获取所述第一分割图。

5.根据权利要求1所述的图像污点检测方法，其特征在于，通过对所述亮度图进行曲面拟合，并基于拟合后的亮度曲面与所述亮度图的差来获取二值化的第二分割图包括：

通过对所述亮度图进行B样条拟合来获取第二分割图。

6.根据权利要求5所述的图像污点检测方法，其特征在于，通过对所述亮度图进行B样条拟合来获取第二分割图包括：

在水平方向上选取第一数量的控制点进行第一B样条拟合；

在竖直方向上选取第二数量的控制点进行第二B样条拟合；

将通过所述第一B样条拟合和所述第二B样条拟合得到的亮度曲面图与所述亮度图作差以获取差分亮度图；以及

对所述差分亮度图进行二值化以获取所述第二分割图。

7.根据权利要求1所述的图像污点检测方法，其特征在于，将所述第一分割图和所述第二分割图合并成最终分割图包括：

分别对所述第一分割图和所述第二分割图进行降噪；以及

将降噪后的第一分割图和第二分割图组合以获取所述最终分割图。

8.根据权利要求1所述的图像污点检测方法，其特征在于，基于所述最终分割图识别污点信息包括：

通过行程法在所述最终分割图中识别污点区域的位置和尺寸。

9.一种图像污点检测装置，其特征在于，所述图像污点检测装置包括：

亮度提取器，从采集到的图像提取亮度图；

第一图像分割器，通过对所述亮度图进行同态滤波和二值化来获取第一分割图；

第二图像分割器，通过对所述亮度图进行曲面拟合，并基于拟合后的亮度曲面与所述亮度图的差来获取二值化的第二分割图；

组合器，将所述第一分割图和所述第二分割图加权合并成最终分割图；以及

识别器，基于所述最终分割图识别污点信息。

10.根据权利要求9所述的图像污点检测装置，其特征在于，所述亮度提取器包括：

亮度分量提取器，从所述图像提取亮度分量图，所述亮度分量图与所述图像具有相同的尺寸；以及

降维器，对所述亮度分量图降维以获取所述亮度图。