[发明专利]锚定物检测方法及装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种锚定物检测方法，其特征在于，包括：

获取包含有锚定物成像的图像；

检测所述图像中的直线；

基于所检测直线的特征，确定所述检测物与锚定物的相似度；

基于所述相似度，定位所述锚定物在所述图像中的位置。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述检测所述图像中的直线，包括：

检测所述图像中的直线并获得至少一条第一直线；

根据所述第一直线的方程式进行直线归类；

根据所述第一直线的归类结果，基于属于同一类的所述第一直线形成第二直线。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所检测直线的特征，确定所述检测物与锚定物的相似度，包括：

根据所述检测物至少两条所述第二直线的交点、夹角和/或所述第二直线的长度，确定所述检测物与锚定物的相似度。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

将第i条第二直线所对应第一点向第i条所述第二直线垂直投影以获得第一投影坐标，其中，所述第一点为所述第二条直线所对应第一直线的首尾点与原点之间的连线和预设坐标轴之间夹角最大的点；

将第i条所述第二直线所对应的第二点向第i条所述第二直线投影以获得第二投影坐标，其中，所述第二点为所述第二条直线所对应第一直线的首尾点与原点之间的连线和预设坐标轴之间夹角最小的点；

确定第i条第二直线和第j条第二直线之间的交点与所述第一投影坐标和所述第二投影坐标之间的距离；

所述距离小于第一距离阈值，则确定所述第i条第二直线和第j条第二直线相交；

基于交点坐标，确定出所述第i条第二直线的长度，其中，所述交点坐标为所述第i条第二直线与至少两条其他所述第二直线的相交点的坐标。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

第i条第二直线与第j条第二直线相交，则确定所述第i条第二直线和所述第j条第二直线的夹角。

6.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，

所述根据所述第一直线的方程式进行直线归类，包括：

根据所述第一直线的首尾点的坐标，确定所述第一直线的直角坐标方程式；

根据所述直角坐标方程式确定所述第一直线的斜率和截距；

基于所述斜率和所述截距，确定两条所述第一直线之间的范式距离；

将所述范式距离小于第二距离阈值的两条所述第一直线归为一类。

7.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所检测直线的特征，确定所述检测物与锚定物的相似度，包括：

将检测物的第二直线集合中的第x条第二直线与其他第二直线之间的夹角，与所述锚定物的模板内的第y条直线与其他直线之间的夹角匹配；

基于所述夹角的匹配结果，确定所述第x条第二直线与所述第y条直线是否满足夹角匹配条件；

确定所述第x条第二直线与所述第y条直线是否满足长度匹配条件；

所述第x条第二直线与所述第y条直线同时满足所述夹角匹配条件及所述长度匹配条件，根据所述第x条第二直线的首尾点的坐标和所述第y条直线首尾点的坐标，确定出将所述第x条第二直线仿射变换到所述第y条直线的仿射矩阵；

根据所述仿射矩阵，变换所述第x条第二直线以外的其他所述第二直线，获得所述检测物仿射变换后的第二直线集合；

确定所述第二直线集合与所述模板中的直线相似度；

根据所述相似度，确定所述检测物是否为所述锚定物。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述方法，还包括：

所述检测物的第x条第二直线与所述模板中的多条直线同时满足所述夹角匹配条件和所述长度匹配条件，生成组合集，其中，所述组合集中包括第x条第二直线与至少两条直线的多个组合；

所述基于所检测直线的特征，确定所述检测物与锚定物的相似度，包括：

遍历所述组合集中每一个组合，基于每一个所述组合确定所述检测物与锚定物的相似度。