[发明专利]一种晶圆键合方法、控制单元和系统有效
申请号: | 201811512166.6 | 申请日: | 2018-12-11 |
公开(公告)号: | CN111312611B | 公开(公告)日: | 2022-09-30 |
发明(设计)人: | 刘洋 | 申请(专利权)人: | 武汉新芯集成电路制造有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/68;H01L21/66 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 王宝筠 |
地址: | 430205 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 晶圆键合 方法 控制 单元 系统 | ||
1.一种晶圆键合方法,其特征在于,包括:
获取卡盘的卡盘中心位置,所述卡盘用于传送待键合的第一晶圆;
在所述第一晶圆传送到所述卡盘上之后,获取所述第一晶圆的晶圆中心位置;
计算所述卡盘中心位置与所述晶圆中心位置之间的偏移量;
当所述偏移量不在允许偏移量范围内时,根据所述偏移量控制装载在所述卡盘上的顶针移动到所述晶圆中心位置;
待传送到所述卡盘上的第一晶圆与待键合的第二晶圆对准后,控制所述顶针向外顶所述传送到卡盘上的第一晶圆,以实现所述第一晶圆和第二晶圆的键合。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取卡盘的卡盘中心位置,具体包括:
获取与所述卡盘同心的同一圆周上的至少三个第一位置点的位置信息;
根据所述至少三个第一位置点的位置信息获取所述卡盘的卡盘中心位置。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取卡盘的卡盘中心位置,具体包括:
获取设置在所述卡盘表面上且与所述卡盘同心的同一圆周上的至少三个第一标记的位置信息;
根据所述至少三个第一标记的位置信息,获取所述卡盘的卡盘中心位置。
4.根据权利要求2或3所述的方法,其特征在于,所述与所述卡盘同心的同一圆周为所述卡盘边缘所在的圆周。
5.根据权利要求1-4任一项所述的方法,其特征在于,所述在所述第一晶圆传送到所述卡盘上之后,获取所述第一晶圆的晶圆中心位置,具体包括:
获取与所述第一晶圆同心的同一圆周上的至少三个第二位置点的位置信息;
根据所述至少三个第二位置点的位置信息获取所述第一晶圆的晶圆中心位置。
6.根据权利要求1-4任一项所述的方法,其特征在于,所述在所述第一晶圆传送到所述卡盘上之后,获取所述第一晶圆的晶圆中心位置,具体包括:
获取设置在所述第一晶圆表面上且与所述第一晶圆同心的同一圆周上的至少三个第二标记的位置信息;
根据所述至少三个第二标记的位置信息,获取所述第一晶圆的晶圆中心位置。
7.根据权利要求5或6所述的方法,其特征在于,所述与所述 第一晶圆同心的同一圆周为所述第一晶圆边缘所在的圆周。
8.一种晶圆键合控制单元,其特征在于,包括:
第一获取单元,用于获取卡盘的卡盘中心位置,所述卡盘用于传送待键合的第一晶圆;
第二获取单元,用于在所述第一晶圆传送到所述卡盘上之后,获取所述第一晶圆的晶圆中心位置;
计算单元,用于计算所述卡盘中心位置与所述晶圆中心位置之间的偏移量;
第一控制单元,用于当所述偏移量不在允许偏移量范围内时,根据所述偏移量控制装载在所述卡盘上的顶针移动到所述晶圆中心位置;
第二控制单元,用于待传送到所述卡盘上的第一晶圆与待键合的第二晶圆对准后,控制所述顶针向外顶所述传送到卡盘上的第一晶圆,以实现所述第一晶圆和第二晶圆的键合。
9.根据权利要求8所述的控制单元,其特征在于,所述第一获取单元,具体包括:
第一获取子单元,用于获取与所述卡盘同心的同一圆周上的至少三个第一位置点的位置信息;
第二获取子单元,用于根据所述至少三个第一位置点的位置信息获取所述卡盘的卡盘中心位置。
10.根据权利要求8所述的控制单元,其特征在于,所述第一获取单元,具体包括:
第三获取子单元,用于获取设置在所述卡盘表面上且与所述卡盘同心的同一圆周上的至少三个第一标记的位置信息;
第四获取子单元,用于根据所述至少三个第一标记的位置信息,获取所述卡盘的卡盘中心位置。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造