[发明专利]半导体系统

说明书

一种半导体系统，该半导体系统包括第一半导体装置，该第一半导体装置被配置为输出时钟信号、选通信号和模式信息信号，并根据检测信号来检测时钟信号与选通信号的相位差。该半导体系统可包括第二半导体装置，该第二半导体装置被配置为通过比较时钟信号和选通信号的相位来生成检测信号。

技术领域

本公开的实施方式总体上涉及一种检测时钟和选通信号(strobe signal)的相位差的半导体系统。

背景技术

在规定半导体装置的性能的规范中定义了选通信号(DQS)与时钟(CLK)之间的跨域余量(tDQSS)。由于这一事实，在写操作中，半导体装置执行写调平操作以用于校准选通信号(DQS)与时钟(CLK)之间的偏移。

通常，通过在选通信号(DQS)的上升沿处检测时钟(CLK)的逻辑电平来执行写调平操作。也就是说，当进入写调平操作时，半导体装置比较输入的选通信号(DQS)和时钟(CLK)的相位并将比较结果反馈给外部控制器，外部控制器基于从半导体装置反馈的比较结果来调节选通信号(DQS)的相位。本公开的背景技术公开于美国专利No.8,723,569中。

发明内容

在实施方式中，一种半导体系统可包括第一半导体装置，该第一半导体装置被配置为输出时钟信号、选通信号和模式信息信号，并根据检测信号来检测时钟信号与选通信号的相位差。该半导体系统可包括第二半导体装置，该第二半导体装置被配置为基于模式信息信号，将选通信号或时钟信号设定为用于检测时钟信号与选通信号的相位差以生成检测信号的基准。

在实施方式中，一种半导体系统可包括第一半导体装置，该第一半导体装置被配置为输出时钟信号、选通信号和模式信息信号，并根据第一至第四检测信号来检测时钟信号与选通信号的相位差。该半导体系统可包括第二半导体装置，该第二半导体装置被配置为基于模式信息信号，将选通信号或时钟信号设定为用于检测时钟信号与选通信号的相位差以生成第一至第四检测信号的基准。

在实施方式中，一种半导体系统可包括第一半导体装置，该第一半导体装置被配置为输出时钟信号、选通信号和模式信息信号，并根据检测信号来检测时钟信号与选通信号的相位差。该半导体系统可包括第二半导体装置，该第二半导体装置被配置为基于模式信息信号来检测时钟信号与选通信号的相位差以生成检测信号，并基于模式信息信号将检测信号的逻辑电平反相或非反相。

附图说明

图1是示出根据实施方式的半导体系统的配置的示例的表示的框图。

图2是示出图1所示的半导体装置中所包括的相位差检测电路的配置的示例的表示的框图。

图3是示出图2所示的相位差检测电路中所包括的输入电路的配置的示例的表示的图。

图4是示出图2所示的相位差检测电路中所包括的传输信号发生电路的配置的示例的表示的电路图。

图5和图6是帮助说明根据实施方式的半导体系统的操作的时序图的示例的表示。

图7是示出根据其它实施方式的半导体系统的配置的示例的表示的框图。

图8是示出图7所示的半导体装置中所包括的相位差检测电路的配置的示例的表示的框图。

图9是示出图8所示的相位差检测电路中所包括的输入电路的配置的示例的表示的图。

图10是示出图8所示的相位差检测电路中所包括的传输信号发生电路的配置的示例的表示的框图。

图11是示出图10所示的传输信号发生电路中所包括的第一传输信号发生电路的配置的示例的表示的电路图。

图12是帮助说明根据其它实施方式的半导体系统的操作的时序图的示例的表示。

图13是示出应用了图1至图12所示的半导体系统的电子系统的配置的示例的表示的图。