[发明专利]半导体装置、角度值校正电路及其方法有效
| 申请号: | 201811284229.7 | 申请日: | 2018-10-31 |
| 公开(公告)号: | CN109768755B | 公开(公告)日: | 2023-10-24 |
| 发明(设计)人: | 澁谷佳孝;木村隼人 | 申请(专利权)人: | 瑞萨电子株式会社 |
| 主分类号: | H02P23/14 | 分类号: | H02P23/14 |
| 代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 王茂华 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 半导体 装置 角度 校正 电路 及其 方法 | ||
1.一种角度值校正电路,其包括:
旋转周期测量单元,其测量旋转轴的旋转周期,其中,通过使用根据所述旋转轴的旋转角度而输出信号的旋转变压器来检测旋转角度;
旋转速度计算单元,其基于所述旋转周期来计算所述旋转轴的旋转速度;
加速度计算单元,其基于所述旋转速度,计算当所述旋转轴的给定旋转角度被划分为2n+1个间隔时每间隔的旋转速度的变化率,其中n是1或更大的整数;
估计角度计算单元,其基于所述旋转速度以及所述旋转速度的所述变化率,在假设所述旋转轴执行匀加速运动的情况下,计算旋转角度估计值,所述旋转角度估计值是所述旋转轴的所述旋转角度的估计值;
校正值计算单元,其基于从所述旋转变压器的所述输出信号转换的旋转角度值、以及基于所述旋转角度估计值,计算所述旋转角度值的校正值;以及
校正值应用单元,其将所述校正值应用于所述旋转角度值,以生成经过校正的角度值。
2.根据权利要求1所述的角度值校正电路,
其中,所述估计角度计算单元计算在所述旋转角度值是与通过将所述给定旋转角度除以2n+1而获得的角度的整数倍相对应的值时的时间点的所述旋转角度估计值。
3.根据权利要求2所述的角度值校正电路,
其中,所述校正值计算单元计算所述旋转角度值和所述旋转角度估计值之间的差,作为在所述旋转角度值是与通过将所述给定旋转角度除以2n+1而获得的角度的整数倍相对应的值时的时间点的所述校正值。
4.根据权利要求1所述的角度值校正电路,
其中,每次所述旋转轴旋转所述给定旋转角度时,所述旋转速度计算单元计算所述旋转速度。
5.根据权利要求1所述的角度值校正电路,
其中,所述给定旋转角度是360度。
6.根据权利要求5所述的角度值校正电路,
其中,所述加速度计算单元通过以下等式计算在第i周期中所述旋转速度的所述变化率ai:
ai=(Vi-Vi-1)/2n+1,
其中,i为2或更大的整数,其指示与所述旋转轴的一个旋转相对应的所述旋转周期的编号,Vi是第i周期中的所述旋转速度,并且Vi-1是第i-1周期中的所述旋转速度。
7.根据权利要求6所述的角度值校正电路,
其中,由预定位数的浮点格式来表示所述旋转速度Vi和Vi-1,
其中,所述加速度计算单元包括:
数字匹配电路,其将Vi的指数部分和Vi-1的指数部分与公共指数匹配,并且当所述指数部分具有所述公共指数时,生成Vi的尾数和Vi-1的尾数;
第一减法器,其当所述指数部分变成公共指数时,从Vi的所述尾数减去Vi-1的所述尾数;以及
第二减法器,其从所述公共指数减去n+1。
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