[发明专利]一种渐开线内花键磨损量的测具及测量方法

说明书

本发明涉及一种测量工具，具体涉及一种渐开线内花键磨损量的测具及其测量方法，以解决现有技术中内花键磨损量测量精度不高的问题。本发明的一种渐开线内花键磨损量测具，包括改装内径千分尺和标准件，改装内径千分尺包括三个测量头，测量头的工作端为球头，且三个测量头的球头的球心位于同一圆周上。本发明还提供一种渐开线内花键磨损量测量方法，包括以下步骤：1)采用标准件调零改装内径千分尺；2)将改装内径千分尺插入被测渐开线内花键的齿槽中，改装内径千分尺的读数即为△M；3)根据△S与△M值的对应关系，计算得出△S值；被测渐开线内花键的剩余齿厚等于标准件的齿厚减去△S值，即可得出被测渐开线内花键的磨损情况。

技术领域

本发明涉及一种测量工具，具体涉及一种渐开线内花键磨损量的测具及其测量方法。

背景技术

渐开线内花键制造时的测量方法很多，如三针法测量M值、极限塞规测量内花键的公差带是否合格等，对于一些性能要求高的内花键需要定期检查工作部位的磨损量，由于联接的外花键往往处于内花键的中间部位，因此内花键的实际磨损部位测量较困难。

现有测具采用杠杆结构进行测量，但由于使用者的力度不同，测量结果也有差异。尤其是对于内花键距离孔口为250mm的发动机，由于工作部位狭小，其内花键磨损量的测量往往需要使用专用测具，如图1所示，由于内花键可供测具放入的空间只有300mm左右，因此测量精度不高，且即使是同一操作者进行重复测量，结果也不同。

图2为通用数显三点内径千分尺的测量头示意图，由于测量头与渐开线内花键的接触部位圆弧半径大，且每个厂家的测量头形式也不一样，因此无法满足渐开线花键M值测量要求，进而无法精确地测量渐开线内花键的磨损量。

发明内容

本发明提供一种渐开线内花键磨损量的测具，以解决现有技术中内花键磨损量测量精度不高的问题。

本发明的技术解决方案是：一种渐开线内花键磨损量的测具，其特殊之处在于：包括改装内径千分尺和标准件；

所述标准件的渐开线内花键与被测渐开线内花键结构相同，但其齿厚小于标准齿厚且大于工艺要求的剩余齿厚；

所述改装内径千分尺的测量范围大于渐开线内花键的分度圆直径，其杆长大于渐开线内花键被测位置的深度；所述改装内径千分尺包括三个测量头；所述测量头的工作端为球头，且三个测量头的球头的球心位于同一圆周上；所述测量头的球头直径与渐开线内花键测量棒的直径相等；

所述三个测量头的圆周布局方式为：当齿数为3的倍数时，三个测量头圆周均布；除此之外的齿数，三个测量头以适应齿槽位置为原则合理布局。

本发明还提供一种上述测具对渐开线内花键磨损量的测量方法，包括以下步骤：

1)采用标准件对改装内径千分尺调零；

2)将所述改装内径千分尺插入被测渐开线内花键的齿槽中进行测量；当齿槽数为偶数时，所述改装内径千分尺的读数即为渐开线内花键棒间距的变化量△M，当齿槽数为奇数时，将所述改装内径千分尺的读数按照勾股定理换算成渐开线内花键棒间距的变化量△M；

3)根据渐开线内花键参数、渐开线函数inva计算渐开线内花键齿槽宽变化量△S与△M值的比值；由比值和步骤2)中的△M值计算出△S；

4)将标准件的齿厚减去△S值，得到被测渐开线内花键的剩余齿厚，获得被测渐开线内花键的磨损情况。

本发明还提供一种渐开线内花键磨损量的测具，包括改装内径千分尺、标准件和对表件；

所述标准件的渐开线内花键与被测渐开线内花键结构相同，但其齿厚小于标准齿厚且大于工艺要求的剩余齿厚；