[发明专利]一种渐开线内花键磨损量的测具及测量方法有效

专利信息
申请号: 201811263508.5 申请日: 2018-10-28
公开(公告)号: CN111102895B 公开(公告)日: 2020-10-16
发明(设计)人: 张宏利;李亚会;缑庆;王健;唐秀娟 申请(专利权)人: 国营四达机械制造公司
主分类号: G01B5/00 分类号: G01B5/00;G01N3/06;G01N3/56
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 倪金荣
地址: 712203 陕西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 渐开线 花键 磨损 测量方法
【权利要求书】:

1.一种渐开线内花键磨损量的测具,其特征在于:

包括改装内径千分尺和标准件;

所述标准件的渐开线内花键与被测渐开线内花键结构相同,但其齿厚小于标准齿厚且大于工艺要求的剩余齿厚;

所述改装内径千分尺的测量范围大于渐开线内花键的分度圆直径,其杆长大于渐开线内花键被测位置的深度;所述改装内径千分尺包括三个测量头;所述测量头的工作端为球头,且三个测量头的球头的球心位于同一圆周上;所述测量头的球头直径与渐开线内花键测量棒的直径相等;

所述三个测量头的圆周布局方式为:当齿数为3的倍数时,三个测量头圆周均布;除此之外的齿数,三个测量头以适应齿槽位置为原则合理布局。

2.权利要求1所述测具对渐开线内花键磨损量的测量方法,其特征在于:包括以下步骤:

1)采用标准件对改装内径千分尺调零;

2)将所述改装内径千分尺插入被测渐开线内花键的齿槽中进行测量;当齿槽数为偶数时,所述改装内径千分尺的读数即为渐开线内花键棒间距的变化量△M,当齿槽数为奇数时,将所述改装内径千分尺的读数按照勾股定理换算成渐开线内花键棒间距的变化量△M;

3)根据渐开线内花键参数、渐开线函数inva计算渐开线内花键齿槽宽变化量△S与△M值的比值;由比值和步骤2)中的△M值计算出△S;

4)将标准件的齿厚减去△S值,得到被测渐开线内花键的剩余齿厚,获得被测渐开线内花键的磨损情况。

3.一种渐开线内花键磨损量的测具,其特征在于:

包括改装内径千分尺、标准件和对表件;

所述标准件的渐开线内花键与被测渐开线内花键结构相同,但其齿厚小于标准齿厚且大于工艺要求的剩余齿厚;

所述改装内径千分尺的测量范围大于渐开线内花键的分度圆直径,其杆长大于渐开线内花键被测位置的深度;所述改装内径千分尺包括三个测量头;所述测量头的工作端为球头,且三个测量头的球头的球心位于同一圆周上;所述测量头的球头直径与渐开线内花键测量棒的直径相等;

所述三个测量头的圆周布局方式为:当齿数为3的倍数时,三个测量头圆周均布;除此之外的齿数,三个测量头以适应齿槽位置为原则合理布局;

所述对表件的结构与标准件的区别是光面的渐开线内花键;

所述对表件为环规结构;当改装内径千分尺的三个测量头均接触齿槽工作面时,三个测量头顶点所在圆的直径即为对表件内侧光面的内径。

4.权利要求3所述测具对渐开线内花键磨损量的测量方法,其特征在于:包括以下步骤:

1)采用对表件和标准件分别对所述改装内径千分尺调零;若标准件和对表件对改装内径千分尺调零的误差大于测量头的磨损极限时,更换测量头;

2)将所述改装内径千分尺插入被测渐开线内花键的齿槽中进行测量;当齿槽数为偶数时,所述改装内径千分尺的读数即为渐开线内花键棒间距的变化量△M,当齿槽数为奇数时,将所述改装内径千分尺的读数按照勾股定理换算成渐开线内花键棒间距的变化量△M;

3)根据渐开线内花键参数、渐开线函数inva计算渐开线内花键齿槽宽变化量△S与△M值的比值;由比值和步骤2)中的△M值计算出△S;

4)将标准件的齿厚减去△S值,得到被测渐开线内花键的剩余齿厚,获得被测渐开线内花键的磨损情况。

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