[发明专利]半导体存储装置有效
申请号: | 201810846136.2 | 申请日: | 2018-07-27 |
公开(公告)号: | CN109935256B | 公开(公告)日: | 2023-02-03 |
发明(设计)人: | 泉达雄;小宫怜子 | 申请(专利权)人: | 铠侠股份有限公司 |
主分类号: | G11C11/40 | 分类号: | G11C11/40 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 杨林勳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 存储 装置 | ||
1.一种半导体存储装置,具备:
多个导电体,隔着绝缘体而积层;
柱,通过所述多个导电体,包含第1柱状部、所述第1柱状部的上方的第2柱状部、以及所述第1柱状部及所述第2柱状部间的接合部,且与所述多个导电体的交叉部分分别作为晶体管发挥功能;及
控制器,执行写入动作;
所述第1柱状部所通过的所述多个导电体中,距所述接合部最近的导电体与其他任一个导电体分别作为第1虚设字线、及第1字线发挥功能,
所述第2柱状部所通过的所述多个导电体中,距所述接合部最近的导电体与其他任一个导电体分别作为第2虚设字线、及第2字线发挥功能,
所述控制器是
在所述写入动作中,执行包括包含预充电动作的编程动作的编程循环,
在选择了所述第1字线的所述写入动作中的所述预充电动作中,对所述第1字线、所述第1虚设字线、所述第2虚设字线、及所述第2字线分别施加比接地电压高的第1电压,
在选择了所述第2字线的所述写入动作中的所述预充电动作中,对所述第1字线施加比所述第1电压低的第2电压,对所述第2虚设字线及所述第2字线分别施加所述第1电压。
2.根据权利要求1所述的半导体存储装置,其中所述控制器在选择了所述第2字线的所述写入动作中的所述预充电动作中,对所述第1虚设字线施加所述第1电压。
3.根据权利要求2所述的半导体存储装置,其中设置在作为所述第2虚设字线发挥功能的所述导电体与作为所述第2字线发挥功能的所述导电体之间的所述导电体中,任一个导电体作为第3字线发挥功能,且
所述控制器在选择了所述第2字线的所述写入动作中的所述预充电动作中,对所述第3字线施加比所述第1电压高的第3电压。
4.根据权利要求3所述的半导体存储装置,其中所述第1柱状部所通过的所述多个导电体中,与作为所述第1字线发挥功能的所述导电体相比距离所述接合部更远的导电体中,任一个导电体作为第4字线发挥功能,且
所述控制器在选择了所述第1字线的所述写入动作中的所述预充电动作中,对所述第4字线施加所述第2电压。
5.根据权利要求3所述的半导体存储装置,其中所述第2柱状部所通过的所述多个导电体中,与作为所述第2字线发挥功能的所述导电体相比距离所述接合部更远的导电体中,任一个导电体作为第5字线发挥功能,且
所述控制器在选择了所述第2字线的所述写入动作中的所述预充电动作中,对所述第5字线施加所述第1电压。
6.根据权利要求3所述的半导体存储装置,其中所述第1柱状部所通过的所述多个导电体中,与作为所述第1字线发挥功能的所述导电体相比距离所述接合部更近的导电体中,任一个导电体作为第6字线发挥功能,且
所述控制器在选择了所述第1字线的所述写入动作中的所述预充电动作中,对所述第6字线施加所述第1电压。
7.根据权利要求1所述的半导体存储装置,其中所述控制器在选择了所述第2字线的所述写入动作中的所述预充电动作中,对所述第1虚设字线施加所述第2电压。
8.根据权利要求7所述的半导体存储装置,其中设置在作为所述第2虚设字线发挥功能的所述导电体与作为所述第2字线发挥功能的所述导电体之间的所述导电体中,任一个导电体作为第3字线发挥功能,且
所述控制器在选择了所述2字线的所述写入动作中的所述预充电动作中,对所述第3字线施加比所述第1电压高的第3电压。
9.根据权利要求8所述的半导体存储装置,其中所述第1柱状部所通过的所述多个导电体中,与作为所述第1字线发挥功能的所述导电体相比距离所述接合部更远的导电体中,任一个导电体作为第4字线发挥功能,且
所述控制器在选择了所述第1字线的所述写入动作中的所述预充电动作中,对所述第4字线施加所述第2电压。
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