[发明专利]测量系统有效

专利信息
申请号: 201810442433.0 申请日: 2018-05-10
公开(公告)号: CN108871265B 公开(公告)日: 2022-07-26
发明(设计)人: 大友文夫;熊谷薰;穴井哲治 申请(专利权)人: 株式会社拓普康
主分类号: G01C3/06 分类号: G01C3/06;G01C1/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 王岳;闫小龙
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 测量 系统
【权利要求书】:

1.一种测量系统,具有全站仪、以及目标装置,其中,构成为:

所述目标装置具有朝向所述全站仪发出照明光的照明灯,

所述全站仪具备:

测距光射出部,射出测距光;

光接收部,对反射测距光进行光接收,产生光接收信号;

测距部,基于所述光接收信号来进行测定对象的测距;

光轴偏转部,设置在测距光轴上,能够将该测距光轴二维偏转;

射出方向检测部,对所述测距光轴的偏角进行检测来进行测角;

摄像部,具有与未由所述光轴偏转部偏转的状态的所述测距光轴平行的摄像光轴;以及

运算控制部,对所述光轴偏转部的偏转作用和所述测距部的测距作用进行控制,

该运算控制部从所述摄像部所取得的图像检测所述照明光,基于该照明光的检测结果来求取所述照明灯的方向,利用所述光轴偏转部以求取的方向为中心二维扫描所述测距光,沿着扫描路径进行测距、测角,所述二维扫描包括在水平方向上为扁平的初期搜索扫描和在纵长上为扁平的局部搜索扫描,

并且,构成为:所述目标装置具有反射片材的回复反射体,具有与所述照明灯处于已知的位置的所述目标装置的基准点、将该基准点作为中心的基准反射部、以及从该基准反射部沿上下延伸的辅助反射部,所述全站仪通过所述初期搜索扫描基于来自所述辅助反射部或所述基准反射部的反射测距光来检测所述目标装置,进而通过所述局部搜索扫描基于来自所述基准反射部的反射测距光来检测所述基准点,所述运算控制部基于所述基准点的检测结果来利用所述光轴偏转部使所述测距光轴扫描,求取所述基准点的三维位置。

2.根据权利要求1所述的测量系统,其中,所述光轴偏转部具备能够以所述测距光轴上为中心旋转的一对光学棱镜、以及将该光学棱镜各自独立旋转的电动机,所述运算控制部利用所述电动机的驱动控制来控制所述一对光学棱镜的旋转方向、旋转速度、旋转比,控制由所述光轴偏转部进行的偏转,使所述测距光二维扫描。

3.根据权利要求1或权利要求2所述的测量系统,其中,所述照明灯能够将所述照明光闪烁,所述运算控制部根据点亮时的图像与熄灭时的图像的图像差检测所述照明光。

4.根据权利要求1或权利要求2所述的测量系统,其中,设置有多个所述目标装置,各照明灯具有不同的闪烁模式,所述运算控制部基于闪烁模式来识别所述目标装置,按照各目标装置的每一个执行二维扫描。

5.根据权利要求1或权利要求2所述的测量系统,其中,还具备数据采集器,所述数据采集器具有通信部、存储部,所述全站仪具有通信部,所述数据采集器与所述全站仪能够经由所述两个通信部进行数据通信,将由该全站仪进行的测距、测角的结果向所述数据采集器发送,并且,通过该数据采集器能够远程操作所述全站仪。

6.根据权利要求1所述的测量系统,其中,所述运算控制部被构成为使所述光轴偏转部执行二维扫描图案,对该扫描图案横穿过所述回复反射体时的反射测距光进行检测,基于该检测结果来追踪所述目标装置。

7.根据权利要求1所述的测量系统,其中,所述运算控制部控制为所述光轴偏转部执行所述初期搜索扫描和所述局部搜索扫描,所述初期搜索扫描为在所述光轴偏转部的最大偏角内的广范围的搜索扫描,所述局部搜索扫描为包含所述目标装置的搜索扫描,

所述运算控制部被构成为对所述光轴偏转部进行控制,以使当通过所述初期搜索扫描检测出来自所述目标装置的反射光时转移到所述局部搜索扫描。

8.根据权利要求6或权利要求7所述的测量系统,其中,所述运算控制部被构成为对所述光轴偏转部进行控制,以使所述二维扫描具有交点而该交点与所述测距光轴一致。

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