[发明专利]显示面板及其制造方法、检测方法和显示装置

说明书

本公开提供了一种显示面板及其制造方法、检测方法和显示装置，涉及显示技术领域。显示面板包括位于基板上的一个或多个检测单元，每个检测单元包括：相对设置的第一电极层和第二电极层；发光层，位于所述第一电极层与所述第二电极层之间；和荧光探针层，位于所述第一电极层和所述发光层之间。

技术领域

本公开涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板及其制造方法、检测方法和显示装置。

背景技术

在有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode，OLED)显示面板的制造过程中，经常会发现OLED显示面板的某些部位会具有亮度偏暗等显示缺陷。

发明内容

显示缺陷的产生原因可能有多种。因此，确定显示缺陷的产生原因会比较困难。

发明人发现，发光层的发光效率容易受到发光层周围环境的影响。例如，高温或高湿的环境会导致发光层的发光效率大幅下降。发明人由此认识到，如果能够得到发光层的环境参数，就能为分析显示缺陷的产生原因提供参考。

因此，本公开实施例提供了如下技术方案。

根据本公开实施例的一方面，提供一种显示面板，包括：位于基板上的一个或多个检测单元，每个检测单元包括：相对设置的第一电极层和第二电极层；发光层，位于所述第一电极层与所述第二电极层之间；和荧光探针层，位于所述第一电极层和所述发光层之间。

在一些实施例中，所述基板包括像素区域和非像素区域，所述显示面板还包括像素单元，其中，所述像素单元位于所述像素区域上，所述一个或多个检测单元中的至少一个位于所述非像素区域上。

在一些实施例中，所述第一电极层位于所述基板和所述发光层之间。

在一些实施例中，所述荧光探针层包括对下列参数之一敏感的荧光探针层：温度、湿度、氧浓度。

在一些实施例中，所述荧光探针层的厚度为1μm-5μm。

根据本公开实施例的另一方面，提供一种显示装置，包括：上述任意一个实施例所述的显示面板。

根据本公开实施例的又一方面，提供一种基于如上述任意一个实施例所述的显示面板的检测方法，包括：利用激发光照射所述显示面板中的检测单元，以使得所述检测单元中的荧光探针层发光；检测所述荧光探针层发出的光的参数；和根据所述荧光探针层发出的光的参数，确定所述检测单元中的发光层的环境参数。

在一些实施例中，根据荧光探针层发出的光的参数与该荧光探针层所处的环境的环境参数之间的对应关系，确定所述检测单元中的发光层的环境参数。

在一些实施例中，所述环境参数包括下列之一：温度、湿度、氧浓度。

在一些实施例中，所述光的参数包括所述光的波长或光强。

根据本公开实施例的再一方面，提供一种显示面板的制造方法，包括：在基板上形成一个或多个检测单元；其中，形成每个检测单元包括：在所述基板上形成第一电极层；在所述第一电极层远离所述基板的一侧形成荧光探针层和发光层；和形成第二电极层，其中，所述荧光探针层和所述发光层位于所述第一电极层和所述第二电极层之间。

在一些实施例中，所述基板包括像素区域和非像素区域，在所述像素区域上形成像素单元，在所述非像素区域上形成所述一个或多个检测单元中的至少一个。

在一些实施例中，在形成所述荧光探针层后，在所述荧光探针层远离所述第一电极层的一侧形成所述发光层。

在一些实施例中，所述荧光探针层包括对下列参数之一敏感的荧光探针层：温度、湿度、氧浓度。

在一些实施例中，所述荧光探针层的厚度为1μm-5μm。