[发明专利]显示面板及其制造方法、检测方法和显示装置有效
申请号: | 201810366342.3 | 申请日: | 2018-04-23 |
公开(公告)号: | CN108878473B | 公开(公告)日: | 2021-01-26 |
发明(设计)人: | 谢蒂旎;李伟;张晓晋 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/32 | 分类号: | H01L27/32;H01L51/56;G01N21/64 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 张海强;王莉莉 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示 面板 及其 制造 方法 检测 显示装置 | ||
1.一种显示面板,包括位于基板上的一个或多个检测单元,每个检测单元包括:
相对设置的第一电极层和第二电极层;
发光层,位于所述第一电极层与所述第二电极层之间;和
荧光探针层,位于所述第一电极层和所述发光层之间;
其中,所述基板包括像素区域和非像素区域,所述显示面板的像素单元位于所述像素区域上,所述一个或多个检测单元中的至少一个位于所述非像素区域上。
2.根据权利要求1所述的显示面板,其中,所述第一电极层位于所述基板和所述发光层之间。
3.根据权利要求1所述的显示面板,其中,所述荧光探针层包括对下列参数之一敏感的荧光探针层:温度、湿度、氧浓度。
4.根据权利要求1所述的显示面板,其中,所述荧光探针层的厚度为1μm-5μm。
5.一种显示装置,包括:如权利要求1-4任意一项所述的显示面板。
6.一种基于如权利要求1-4任意一项所述的显示面板的检测方法,包括:
利用激发光照射所述显示面板中的检测单元,以使得所述检测单元中的荧光探针层发光;
检测所述荧光探针层发出的光的参数;和
根据所述荧光探针层发出的光的参数,确定所述检测单元中的发光层的环境参数。
7.根据权利要求6所述的方法,其中,根据荧光探针层发出的光的参数与该荧光探针层所处的环境的环境参数之间的对应关系,确定所述检测单元中的发光层的环境参数。
8.根据权利要求6所述的方法,其中,所述环境参数包括下列之一:温度、湿度、氧浓度。
9.根据权利要求6所述的方法,其中,所述光的参数包括所述光的波长或光强。
10.一种显示面板的制造方法,包括在基板上形成一个或多个检测单元,其中,形成每个检测单元包括:
在所述基板上形成第一电极层;
在所述第一电极层远离所述基板的一侧形成荧光探针层和发光层;和
形成第二电极层,其中,所述荧光探针层和所述发光层位于所述第一电极层和所述第二电极层之间;
其中,所述基板包括像素区域和非像素区域,在所述像素区域上形成像素单元,在所述非像素区域上形成所述一个或多个检测单元中的至少一个。
11.根据权利要求10所述的方法,其中,在形成所述荧光探针层后,在所述荧光探针层远离所述第一电极层的一侧形成所述发光层。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的